Works by Dravin, V.
1
- Journal of Applied Spectroscopy, 2013, v. 80, n. 5, p. 707, doi. 10.1007/s10812-013-9830-4
- Khomich, A. V.;
- Khmelnitskii, R. A.;
- Hu, X. J.;
- Khomich, A. A.;
- Popovich, A. F.;
- Vlasov, I. I.;
- Dravin, V. A.;
- Chen, Y. G.;
- Karkin, A. E.;
- Ralchenko, V. G.
- Article
2
- Journal of Applied Spectroscopy, 2012, v. 79, n. 4, p. 600, doi. 10.1007/s10812-012-9646-7
- Khomich, A.;
- Khmelnitsky, R.;
- Poklonski, N.;
- Lapchuk, N.;
- Dravin, V.;
- Poklonskaya, O.;
- Ashkinazi, E.;
- Vlasov, I.;
- Zavedeev, E.;
- Ralchenko, V.
- Article
3
- Journal of Applied Spectroscopy, 2007, v. 74, n. 4, p. 537, doi. 10.1007/s10812-007-0085-9
- Khomich, A.;
- Poklonskii, N.;
- Lapchuk, N.;
- Khmel’nitskii, R.;
- Dravin, V.;
- Munkhtsetseg, S.
- Article
4
- Russian Engineering Research, 2017, v. 37, n. 4, p. 354, doi. 10.3103/S1068798X17040037
- Afanas'ev, S.;
- Bol'shakov, A.;
- Dravin, V.;
- Zyablyuk, K.;
- Kolyubin, V.;
- Nedosekin, P.;
- Pashentsev, V.;
- Ral'chenko, V.;
- Tyurin, E.;
- Khmel'nitskii, R.
- Article
5
- Crystallography Reports, 2002, v. 47, n. 6, p. 1051, doi. 10.1134/1.1523526
- Lomov, A. A.;
- Karavanskiı, V. A.;
- Imamov, R. M.;
- Sutyrin, A. G.;
- Dravin, V. A.
- Article
6
- Physics of Atomic Nuclei, 2009, v. 72, n. 7, p. 1077, doi. 10.1134/S1063778809070011
- V. S. Belyaev;
- Vinogradov, V. I.;
- Matafonov, A. P.;
- Rybakov, S. M.;
- Krainov, V. P.;
- Lisitsa, V. S.;
- Andrianov, V. P.;
- Ignatiev, G. N.;
- Bushuev, V. S.;
- Gromov, A. I.;
- Rusetsky, A. S.;
- Dravin, V. A.
- Article
7
- Atomic Energy, 2016, v. 121, n. 2, p. 127, doi. 10.1007/s10512-016-0172-1
- Rodionov, N.;
- Amosov, V.;
- Artem'ev, K.;
- Meshchaninov, S.;
- Rodionova, V.;
- Khmel'nitskii, R.;
- Dravin, V.;
- Bol'shakov, A.;
- Ral'chenko, V.
- Article
8
- Technical Physics Letters, 2001, v. 27, n. 7, p. 581, doi. 10.1134/1.1388950
- Klokov, A. Yu.;
- Sharkov, A. I.;
- Galkina, T. I.;
- Khmel’nitskii, R. A.;
- Dravin, V. A.;
- Gippius, A. A.
- Article
9
- Journal of Superconductivity & Novel Magnetism, 2016, v. 29, n. 4, p. 1085, doi. 10.1007/s10948-016-3381-x
- Blokhin, I.;
- Gavrilkin, S.;
- Dravin, V.;
- Ivanenko, O.;
- Krasnosvobodtsev, S.;
- Mitsen, K.;
- Tsvetkov, A.
- Article
10
- Optics & Spectroscopy, 2019, v. 126, n. 3, p. 290, doi. 10.1134/S0030400X19030226
- Tareeva, M. V.;
- Dravin, V. A.;
- Khmelnitskii, R. A.;
- Chernega, N. V.;
- Kudryavtseva, A. D.;
- Shevchenko, M. A.;
- Litvinova, A. O.
- Article
11
- JETP Letters, 1998, v. 67, n. 4, p. 284, doi. 10.1134/1.567614
- Yakimov, A. I.;
- Dvurechenskiı, A. V.;
- Dravin, V. A.;
- Proskuryakov, Yu. Yu.
- Article
12
- JETP Letters, 1996, v. 64, n. 4, p. 298, doi. 10.1134/1.567186
- Galkina, T. I.;
- Sharkov, A. I.;
- Klokov, A. Yu.;
- Bonch-Osmolovskii, M. M.;
- Khmel’nitskii, R. A.;
- Dravin, V. A.;
- Gippius, A. A.
- Article
13
- Journal of Experimental & Theoretical Physics, 2015, v. 121, n. 5, p. 853, doi. 10.1134/S1063776115110102
- Blokhin, I.;
- Gavrilkin, S.;
- Gorshunov, B.;
- Dravin, V.;
- Zhukova, E.;
- Ivanenko, O.;
- Aida, K.;
- Krasnosvobodtsev, S.;
- Kurt, F.;
- Mitsen, K.;
- Tsvetkov, A.
- Article
14
- Journal of Communications Technology & Electronics, 2018, v. 63, n. 7, p. 828, doi. 10.1134/S1064226918070148
- Rodionov, N. B.;
- Pal’, A. F.;
- Bol’shakov, A. P.;
- Ral’chenko, V. G.;
- Khmel’nitskiy, R. A.;
- Dravin, V. A.;
- Malykhin, S. A.;
- Altukhov, I. V.;
- Kagan, M. S.;
- Paprotskiy, S. K.
- Article
15
- JETP Letters, 2015, v. 101, n. 4, p. 247, doi. 10.1134/S0021364015040050
- Blokhin, I.;
- Gavrilkin, S.;
- Gorshunov, B.;
- Dravin, V.;
- Zhukova, E.;
- Ivanenko, O.;
- Iida, K.;
- Krasnosvobodtsev, S.;
- Kurth, F.;
- Mitsen, K.;
- Tsvetkov, A.
- Article
16
- Semiconductors, 2015, v. 49, n. 5, p. 630, doi. 10.1134/S1063782615050267
- Ushakov, V.;
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- Semiconductors, 2001, v. 35, n. 3, p. 325, doi. 10.1134/1.1356156
- Palmer, D. W.;
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- Bobrova, E. A.;
- Loıko, N. N.;
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- Semiconductors, 1999, v. 33, n. 6, p. 627, doi. 10.1134/1.1187743
- Gippius, A. A.;
- Konnov, V. M.;
- Dravin, V. A.;
- Loıko, N. N.;
- Kazakov, I. P.;
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- Article
19
- Semiconductors, 1998, v. 32, n. 8, p. 886, doi. 10.1134/1.1187478
- Ushakov, V. V.;
- Dravin, V. A.;
- Mel’nik, N. N.;
- Zavaritskaya, T. V.;
- Loıko, N. N.;
- Karavanskiı, V. A.;
- Konstantinova, E. A.;
- Timoshenko, V. Yu.
- Article
20
- Semiconductors, 1997, v. 31, n. 9, p. 966, doi. 10.1134/1.1187143
- Ushakov, V. V.;
- Dravin, V. A.;
- Mel’nik, N. N.;
- Karavanskiı, V. A.;
- Konstantinova, E. A.;
- Timoshenko, V. Yu.
- Article
21
- Instruments & Experimental Techniques, 2017, v. 60, n. 1, p. 122, doi. 10.1134/S0020441217010298
- Amosov, V.;
- Rodionov, N.;
- Dravin, V.;
- Artemev, K.;
- Mechchaninov, S.
- Article
22
- Instruments & Experimental Techniques, 2006, v. 49, n. 2, p. 234, doi. 10.1134/S0020441206020126
- Alekseev, A.;
- Butvina, L.;
- Dravin, V.
- Article