Works matching Scanning Tunneling Microscopy And Atomic Force Microscopy

Results: 188
    1
    2
    3
    4
    5
    6
    7
    8
    9
    10
    11
    12
    13
    14

    Топографія та густина поверхневих електронних станів ювенільних та дефектних наноструктурованих поверхонь сколювання (100) шаруватих кристалів In<sub>4</sub>Se<sub>3</sub>

    Published in:
    Journal of Nano- & Electronic Physics, 2018, v. 10, n. 4, p. 1, doi. 10.21272/jnep.10(4).04002
    By:
    • Галій, П. В.;
    • Мазур, П.;
    • Ціжевський, А.;
    • Ненчук, Т. М.;
    • Яровець, І. Р.;
    • Бужук, Я. М.;
    • Дверій, О. Р.
    Publication type:
    Article
    15
    16
    17
    18

    Scanning probe microscopes.

    Published in:
    Solid State Technology, 2000, v. 43, n. 12, p. 117
    By:
    • DeWolf, P.;
    • Brazel, E.;
    • Lefevre, M.;
    • Erickson, A.
    Publication type:
    Article
    19
    20
    21
    22
    23
    24
    25
    26
    27
    28
    29
    30
    31
    32
    33
    34
    35
    36
    37
    38
    39
    40
    41
    42
    43
    44
    45

    Defect-Induced π-Magnetism into Non-Benzenoid Nanographenes.

    Published in:
    Nanomaterials (2079-4991), 2022, v. 12, n. 2, p. 224, doi. 10.3390/nano12020224
    By:
    • Biswas, Kalyan;
    • Yang, Lin;
    • Ma, Ji;
    • Sánchez-Grande, Ana;
    • Chen, Qifan;
    • Lauwaet, Koen;
    • Gallego, José M.;
    • Miranda, Rodolfo;
    • Écija, David;
    • Jelínek, Pavel;
    • Feng, Xinliang;
    • Urgel, José I.
    Publication type:
    Article
    46
    47
    48
    49
    50