Works in Microscopy & Microanalysis, 2010, Vol 16, Issue S2
1
- 2010
- Picard, Y. N.;
- Kamaladasa, R. J.;
- Kumar, N.;
- Trager-Cowan, C.;
- Jiang, W.;
- Skowronski, M.;
- Salvador, P. A.;
- Behmemburg, H.;
- Giesen, C.;
- Day, A. P.;
- England, G.
- Abstract
8
- 2010
- Van Veldhoven, Emile;
- Sidorkin, Vadim;
- Ping Chen;
- Alkemade, Paul;
- Van der Drift, Emile;
- Salemink, Huub;
- Zandbergen, Henny;
- Maas, Diederik
- Abstract
9
- 2010
- Lingala, Siva Jyoth;
- Sharghi-Moshtaghin, Reza;
- Jayne, Douglas;
- Ernst, Frank
- Abstract
10
- 2010
- Williams, R. E. A.;
- Dixit, M.;
- Mishra, R.;
- Genc, A.;
- Srinivasan, R.;
- Viswanathan, G. B.;
- McComb, D. W.;
- Ringnalda, J.;
- Dwyer, C.;
- Windl, W.;
- Fraser, H. L.
- Abstract
12
- 2010
- Payton, E. J.;
- Phillips, P. J.;
- Mills, M. J.
- Abstract
14
- 2010
- Kaoumi, D.;
- Motta, A. T.;
- Kirk, M.;
- Faney, Thibault;
- Wirth, Brian;
- Bentley, Jim
- Abstract
15
- 2010
- Smentkowski, V. S.;
- Denault, L.;
- Wark, D.;
- Scipioni, L.;
- Ferranti, D.
- Abstract
16
- 2010
- Saller, B.;
- Porter, J. R.;
- Van Den Vlekkert, T.;
- Walck, S. D.
- Abstract
17
- 2010
- Jacquemin, P. B.;
- Herring, R. A.
- Abstract
18
- 2010
- Jacquemin, P. B.;
- Herring, R. A.
- Abstract
20
- 2010
- Muecklich, F.;
- Engstler, M.
- Abstract
21
- 2010
- Vicenzi, E. P.;
- Velbel, M.
- Abstract
23
- 2010
- Wang, Y. Y.;
- Li, J.;
- Bruley, J.;
- Domenicucci, A.;
- Cooper, D.;
- Jean-Luc, R.
- Abstract
24
- 2010
- Wacaser, Brent A.;
- Reuter, Mark C.;
- Khayyat, Maha M.;
- Haight, Richard;
- Guha, Supratik;
- Ross, Frances M.
- Abstract
25
- 2010
- Gokhale, A. M.;
- Singh, H.;
- Mao, Y.;
- Zhang, S.;
- Gurumurthy, A.
- Abstract
28
- 2010
- Hosogi, Naoki;
- Shigematsu, Hideki;
- Terashima, Hiroyuki;
- Homma, Michio;
- Nagayama, Kuniaki
- Abstract
29
- 2010
- Smith, K. L.;
- Lumpkin, G. R.;
- Whittle, K. R.;
- Blackford, M. G.;
- Zaluzec, N. J.
- Abstract
30
- 2010
- Ruthel, G.;
- Kota, K.;
- Nuss, J. E.;
- Bavari, S.
- Abstract
31
- 2010
- Panchal, Rekha G.;
- Ruthel, Gordon;
- Kota, Krishna;
- Boltz, Dutch;
- Bavari, Sina
- Abstract
32
- 2010
- Wight, S. A.;
- Vicenzi, E. P.;
- Meier, D. C.;
- Benkstein, K. D.
- Abstract
33
- 2010
- Fukuda, Yoshiyuki;
- Fukazawa, Yugo;
- Danev, Radostin;
- Shigemoto, Ryuichi;
- Nagayama, Kuniaki
- Abstract
34
- 2010
- Ok, J. G.;
- Juggernauth, K. A.;
- Sun, K.;
- McLane, A. A.;
- Zhang, Y.;
- Tawfick, S. H.;
- Hart, A. J.
- Abstract
35
- 2010
- Zipfel, W. R.;
- Bowles, R. D.;
- Bonassar, L. J.;
- Williams, R. M.
- Abstract
36
- 2010
- O'Keefe, Michael A.;
- Allard, Lawrence F.;
- Blom, Douglas A.
- Abstract
37
- 2010
- Zandbergen, H. W.;
- Song, B.;
- Rudneva, M.;
- Van Huis, M. A.
- Abstract
38
- 2010
- Davis, A. N.;
- Peres, P.;
- Merkulov, A.;
- Desse, F.;
- Choi, S.-Y.;
- Schuhmacher, M.
- Abstract
39
- 2010
- Davis, A. N.;
- Horréard, F.;
- Martin, I.;
- Benbalagh, R.;
- Renaud, L.
- Abstract
40
- 2010
- Rossouw, D.;
- Mirkovic, T.;
- Scholes, G. D.;
- Botton, G. A.
- Abstract
41
- 2010
- Cerchiara, R. R.;
- Fischione, P. E.;
- Boccabella, M. F.;
- Robins, A. C.
- Abstract
42
- 2010
- Mott, Richard B.;
- Ritchie, Nicholas W. M.
- Abstract
43
- 2010
- Zheng, H.;
- Minor, A. M.;
- Alivisatos, A. P.;
- Dahmen, U.
- Abstract
46
- 2010
- Müller, H.;
- Jin, J.;
- Danev, R.;
- Spence, J. C. H.;
- Padmore, H.;
- Glaeser, R.
- Abstract
47
- 2010
- Aronova, M. A.;
- Sousa, A. A.;
- Leapman, R. D.
- Abstract
48
- 2010
- Joshi-Imre, A.;
- Ocola, L. E.;
- Klingfus, J.
- Abstract
50
- 2010
- Poenie, M.;
- Christian, L.;
- Tan, S.
- Abstract