Works matching IS 10637826 AND DT 2018 AND VI 52 AND IP 9
1
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1215, doi. 10.1134/S1063782618090099
- Kunitsyna, E. V.;
- Andreev, I. A.;
- Konovalov, G. G.;
- Ivanov, E. V.;
- Pivovarova, A. A.;
- Il’inskaya, N. D.;
- Yakovlev, Yu. P.
- Article
2
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1198, doi. 10.1134/S1063782618090130
- Rut’kov, E. V.;
- Gall, N. R.
- Article
3
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1188, doi. 10.1134/S1063782618090142
- Saidov, A. S.;
- Leyderman, A. Yu.;
- Usmonov, Sh. N.;
- Amonov, K. A.
- Article
4
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1145, doi. 10.1134/S106378261809004X
- Ivanov, K. A.;
- Gubaydullin, A. R.;
- Kaliteevski, M. A.
- Article
5
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1221, doi. 10.1134/S1063782618090038
- Dubinov, A. A.;
- Aleshkin, V. Ya.;
- Morozov, S. V.
- Article
6
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1225, doi. 10.1134/S1063782618090026
- Anisimov, A. N.;
- Wolfson, A. A.;
- Mokhov, E. N.
- Article
7
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1193, doi. 10.1134/S106378261809021X
- Teplyakov, M. P.;
- Ken, O. S.;
- Goryachev, D. N.;
- Sreseli, O. M.
- Article
8
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1137, doi. 10.1134/S1063782618090087
- Kondratenko, T. S.;
- Smirnov, M. S.;
- Ovchinnikov, O. V.;
- Shabunya-Klyachkovskaya, E. V.;
- Matsukovich, A. S.;
- Zvyagin, A. I.;
- Vinokur, Y. A.
- Article
9
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1203, doi. 10.1134/S1063782618090063
- Klochko, N. P.;
- Kopach, V. R.;
- Khrypunov, G. S.;
- Korsun, V. E.;
- Lyubov, V. M.;
- Zhadan, D. O.;
- Otchenashko, A. N.;
- Kirichenko, M. V.;
- Khrypunov, M. G.
- Article
10
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1178, doi. 10.1134/S1063782618090233
- Volodin, V. A.;
- Rui, Zhang;
- Krivyakin, G. K.;
- Antonenko, A. Kh.;
- Stoffel, M.;
- Rinnert, H.;
- Vergnat, M.
- Article
11
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1171, doi. 10.1134/S1063782618090117
- Orletskyi, I. G.;
- Ilashchuk, M. I.;
- Solovan, M. N.;
- Maryanchuk, P. D.;
- Parfenyuk, O. A.;
- Maistruk, E. V.;
- Nichyi, S. V.
- Article
12
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1156, doi. 10.1134/S1063782618090075
- Kolodeznyi, E. S.;
- Kurochkin, A. S.;
- Rochas, S. S.;
- Babichev, A. V.;
- Novikov, I. I.;
- Gladyshev, A. G.;
- Karachinsky, L. Ya.;
- Savelyev, A. V.;
- Egorov, A. Yu.;
- Denisov, D. V.
- Article
13
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1163, doi. 10.1134/S1063782618090154
- Seredin, P. V.;
- Lenshin, A. S.;
- Fedyukin, A. V.;
- Goloshchapov, D. L.;
- Lukin, A. N.;
- Arsentyev, I. N.;
- Zhabotinsky, A. V.
- Article
14
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1118, doi. 10.1134/S106378261809018X
- Sitnikov, A. V.;
- Zhilova, O. V.;
- Babkina, I. V.;
- Makagonov, V. A.;
- Kalinin, Yu. E.;
- Remizova, O. I.
- Article
15
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1160, doi. 10.1134/S1063782618090051
- Castro, R. A.;
- Grabko, G. I.;
- Kononov, A. A.
- Article
16
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1150, doi. 10.1134/S1063782618090191
- Smagina, Zh. V.;
- Zinovyev, V. A.;
- Krivyakin, G. K.;
- Rodyakina, E. E.;
- Kuchinskaya, P. A.;
- Fomin, B. I.;
- Yablonskiy, A. N.;
- Stepikhova, M. V.;
- Novikov, A. V.;
- Dvurechenskii, A. V.
- Article
17
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1129, doi. 10.1134/S1063782618090129
- Orlov, M. L.;
- Volkova, N. S.;
- Ivina, N. L.;
- Orlov, L. K.
- Article
18
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1123, doi. 10.1134/S1063782618090208
- Stovpiaga, E. Yu.;
- Eurov, D. A.;
- Kurdyukov, D. A.;
- Smirnov, A. N.;
- Yagovkina, M. A.;
- Yakovlev, D. R.;
- Golubev, V. G.
- Article
19
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1114, doi. 10.1134/S1063782618090166
- Shiryaev, A. A.;
- Vorotyntsev, V. M.;
- Shobolov, E. L.
- Article
20
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1110, doi. 10.1134/S1063782618090178
- Article
21
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1104, doi. 10.1134/S1063782618090245
- Article
22
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1097, doi. 10.1134/S1063782618090221
- Tolkacheva, E. A.;
- Markevich, V. P.;
- Murin, L. I.
- Article
23
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 9, p. 1091, doi. 10.1134/S1063782618090105
- Okulich, E. V.;
- Okulich, V. I.;
- Tetelbaum, D. I.
- Article