Works matching IS 0947-8396 AND VI 71 AND IP 6 AND DT 2000
1
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 695, doi. 10.1007/s003390000506
- Article
2
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 689, doi. 10.1007/s003390000532
- Li, Y.;
- Tan, C.;
- Xia, Y.;
- Xu, H.;
- Liu, P.;
- Zhang, J.;
- Xue, C.
- Article
3
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 681, doi. 10.1007/s003390000450
- Article
4
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 675, doi. 10.1007/s003390000589
- Gaboriaud, R.J.;
- Pailloux, F.;
- Pacaud, J.;
- Renault, P.O.;
- Perriere, J.;
- Huignard, A.
- Article
5
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 671, doi. 10.1007/s003390000583
- Lee, J.M.;
- Watkins, K.G.;
- Steen, W.M.
- Article
6
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 667, doi. 10.1007/s003390000577
- Cheng, J.-G.;
- Tang, J.;
- Meng, X.-J.;
- Chu, J.-H.;
- Zhang, A.-J.
- Article
7
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 657, doi. 10.1007/s003390000585
- Bonse, J.;
- Sturm, H.;
- Schmidt, D.;
- Kautek, W.
- Article
8
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 651, doi. 10.1007/s003390000576
- Xu, J.;
- Li, W.;
- Ma, T.;
- Chen, K.;
- Li, Z.;
- Lu, W.
- Article
9
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 647, doi. 10.1007/s003390000582
- Armitage, R.;
- Cich, M.;
- Rubin, M.;
- Weber, E.R.
- Article
10
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 643, doi. 10.1007/s003390000575
- Wu, H.-P.;
- Okano, A.;
- Takayanagi, K.
- Article
11
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 639, doi. 10.1007/s003390000574
- Deng, W.;
- Yang, L.;
- Fujita, D.;
- Nejoh, H.;
- Bai, C.
- Article
12
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 633, doi. 10.1007/s003390000573
- Marques, F.C.;
- Vilcarromero, J.;
- Lacerda, R.G.
- Article
13
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 627, doi. 10.1007/s003390000572
- Kononenko, T.V.;
- Garnov, S.V.;
- Pimenov, S.M.;
- Konov, V.I.;
- Romano, V.;
- Borsos, B.;
- Weber, H.P.
- Article
14
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 619, doi. 10.1007/s003390000571
- Basillais, A.;
- Boulmer-Leborgnel, C.;
- Mathias, J.;
- Laidani, N.;
- Laurent, A.;
- Perriere, J.
- Article
15
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 615, doi. 10.1007/s003390000569
- Hayoz, J.;
- Bovet, M.;
- Pillo, T.;
- Schlapbach, L.;
- Aebi, P.
- Article
16
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 609, doi. 10.1007/s003390000567
- Omata, T.;
- Fujiwara, H.;
- Otsuka-Yao-Matsuo, S.;
- Ono, N.
- Article
17
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2000, v. 71, n. 6, p. 601, doi. 10.1007/s003390000546
- Salleo, A.;
- Sands, T.;
- Genin, F.Y.
- Article