Hochauflösende Auger-Elektronen-Spektroskopie zur Charakterisierung von Hartstoffschichten.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 137, doi. 10.1002/mawe.19900210310
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Charakterisierung von ZrO.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 105, doi. 10.1002/mawe.19900210303
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Sekundärionen-Massenspektrometrie an keramischen Werkstoffen.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 140, doi. 10.1002/mawe.19900210314
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Mikrostrukturelle und oberflächenanalytische Charakterisierung keramischer Verstärkungskomponenten.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 120, doi. 10.1002/mawe.19900210307
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Charakterisierung keramischer Werkstoffe mit der Auger-Elektronenspektroskopie: Möglichkeiten und Grenzen.
- Published in:
- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 93, doi. 10.1002/mawe.19900210302
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Vergleichende Gefügeuntersuchungen an SiC-Werkstoffen mittels analytischer Elektronenmikroskopie.
- Published in:
- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 141, doi. 10.1002/mawe.19900210316
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Hochortsauflösende Auger-Elektronenspektrometrie an Elektrisch isolierenden Keramikwerkstoffen.
- Published in:
- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 115, doi. 10.1002/mawe.19900210306
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Masthead.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. fmi, doi. 10.1002/mawe.19900210301
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Möglichkeiten und Grenzen der Hochleistungs-Sekundärionen-Massenspektrometrie für die Charakterisierung keramischer Werkstoffe.
- Published in:
- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 140, doi. 10.1002/mawe.19900210312
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Elektronenmikroskopische und mikroanalytische Untersuchungen von Korngrenzenphasen in SiAlON-Keramiken.
- Published in:
- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 113, doi. 10.1002/mawe.19900210305
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Röntgenmikroanalyse im Transmissionselektronenmikroskop.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 140, doi. 10.1002/mawe.19900210313
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Charakterisierung innerer Grenzflächen mit Methoden der hochauflösenden Elektronenmikroskopie.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 139, doi. 10.1002/mawe.19900210311
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Polytypenanalyse von SiC mittels Ramanspektroskopie.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 108, doi. 10.1002/mawe.19900210304
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TEM-Untersuchungen zur Martensitumwandlung in reinem ZrO.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 141, doi. 10.1002/mawe.19900210315
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Mikroanalytische untersuchungen Faserverstärkter keramischer Werkstoffe.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 128, doi. 10.1002/mawe.19900210308
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TEM Untersuchungen an bearbeiteten Keramikoberflächen.
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- Materialwissenschaft und Werkstoffechnik, 1990, v. 21, n. 3, p. 134, doi. 10.1002/mawe.19900210309
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