Works matching IS 03615235 AND DT 2005 AND VI 34 AND IP 6
1
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 963, doi. 10.1007/s11664-005-0051-3
- Chandra, D.;
- Weirauch, D. F.;
- Schaake, H. F.;
- Kinch, M. A.;
- Aqariden, F.;
- Wan, C. F.;
- Shih, H. D.
- Article
2
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 957, doi. 10.1007/s11664-005-0050-4
- Belas, E.;
- Franc, J.;
- Grill, R.;
- Toth, A. L.;
- Horodysky, P.;
- Moravec, P.;
- Höschl, P.
- Article
3
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 953, doi. 10.1007/s11664-005-0049-x
- Campo, Eva M.;
- Hierl, Thomas;
- Hwang, James C. M.;
- Yuanping Chen;
- Brill, Gregory
- Article
4
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 949, doi. 10.1007/s11664-005-0048-y
- Egerton, E. James;
- Sood, Ashok K.;
- Singh, Rajwinder;
- Puri, Yash R.;
- Davis, Robert F.;
- Pierce, Jon;
- Look, David C.;
- Steiner, Todd
- Article
5
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 944, doi. 10.1007/s11664-005-0047-z
- Karrer, B. C.;
- Peiris, F. C.;
- Vanmil, Brenda;
- Ming Luo;
- Giles, N. C.;
- Myers, Thomas H.
- Article
6
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 939, doi. 10.1007/s11664-005-0046-0
- Grill, R.;
- Franc, J.;
- Turkevych, I.;
- Höschl, P.;
- Belas, E.;
- Moravec, P.
- Article
7
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 933, doi. 10.1007/s11664-005-0045-1
- D'Souza, A. I.;
- Stapelbroek, M. G.;
- Willis, R.;
- Masterjohn, S.;
- Dolan, P.;
- Alderete, M.;
- Bryan, E.;
- Ehlert, J. C.;
- Andrews, J. E.;
- Wijewarnasuriya, P. S.;
- Boehmer, E.;
- Bhargava, S.
- Article
8
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 928, doi. 10.1007/s11664-005-0044-2
- Kinch, M. A.;
- Wan, C.-F.;
- Beck, J. D.
- Article
9
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 922, doi. 10.1007/s11664-005-0043-3
- Haakenaasen, R.;
- Steen, H.;
- Selvig, E.;
- Lorentzen, T.;
- Van Rheenen, A. D.;
- Trosdahl-Iversen, L.;
- Syversen, H.;
- Hall, D.;
- Gordon, N.
- Article
10
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 913, doi. 10.1007/s11664-005-0042-4
- Gilmore, Angelo Scotty;
- Bangs, James;
- Gerrish, Amanda
- Article
11
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 909, doi. 10.1007/s11664-005-0041-5
- Sood, Ashok K.;
- Egerton, James E.;
- Puri, Yash R.;
- Bellotti, Enrico;
- D'Orsogna, Donald;
- Becker, Latika;
- Balcerak, Raymond;
- Freyvogel, Ken;
- Richwine, Robert
- Article
12
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 905, doi. 10.1007/s11664-005-0040-6
- Grein, C. H.;
- Jung, H.;
- Singh, R.;
- Flatté, M. E.
- Article
13
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 898, doi. 10.1007/s11664-005-0039-z
- Vilela, M. F.;
- Buell, A. A.;
- Newton, M. D.;
- Venzor, G. M.;
- Childs, A. C.;
- Peterson, J. M.;
- Franklin, J. J.;
- Bornfreund, R. E.;
- Radford, W. A.;
- Johnson, S. M.
- Article
14
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 891, doi. 10.1007/s11664-005-0038-0
- Zandian, Majid;
- Scott, D.;
- Garnett, J.;
- Edwall, D. D.;
- Pasko, J.;
- Farris, M.;
- Daraselia, M.;
- Arias, J. M.;
- Bajaj, J.;
- Hall, D. N. B.;
- Jacobson, S.;
- Luppino, G.;
- Parker, S.
- Article
15
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 885, doi. 10.1007/s11664-005-0037-1
- Singh, R.;
- Velicu, S.;
- Crocco, J.;
- Chang, Y.;
- Zhao, J.;
- Almeida, L. A.;
- Markunas, J.;
- Kaleczyc, A.;
- Dinan, J. H.
- Article
16
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 880, doi. 10.1007/s11664-005-0036-2
- Kinch, M. A.;
- Aqariden, F.;
- Chandra, D.;
- Liao, P.-K.;
- Schaake, H. F.;
- Shih, H. D.
- Article
17
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 873, doi. 10.1007/s11664-005-0035-3
- Krishnamurthy, S.;
- Berding, M. A.;
- Yu, Z. G.;
- Swartz, C. H.;
- Myers, T. H.;
- Edwall, D. D.;
- DeWames, R.
- Article
18
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 868, doi. 10.1007/s11664-005-0034-4
- Ciani, Anthony J.;
- Ogut, Serdar;
- Batra, Inder P.;
- Sivananthan, Siva
- Article
19
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 864, doi. 10.1007/s11664-005-0033-5
- Chandra, D.;
- Schaake, H. F.;
- Kinch, M. A.;
- Dreiske, P. D.;
- Teherani, T.;
- Aqariden, F.;
- Weirauch, D. F.;
- Shih, H. D.
- Article
20
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 859, doi. 10.1007/s11664-005-0032-6
- Miclaus, C.;
- Malouf, G.;
- Johnson, S. M.;
- Goorsky, M. S.
- Article
21
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 851, doi. 10.1007/s11664-005-0031-7
- Olshove, R.;
- Garwood, G.;
- Mowat, I.;
- Bangs, J.;
- Liguori, M.
- Article
22
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 846, doi. 10.1007/s11664-005-0030-8
- Fulk, C.;
- Sporken, R.;
- Dumont, J.;
- Zavitz, D.;
- Trenary, M.;
- Gupta, B.;
- Brill, G.;
- Dinan, J.;
- Sivananthan, S.
- Article
23
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 839, doi. 10.1007/s11664-005-0029-1
- Zavitz, Daniel H.;
- Evstigneeva, Alexandra;
- Singh, Rasdip;
- Fulk, Chad;
- Trenary, Michael
- Article
24
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 832, doi. 10.1007/s11664-005-0028-2
- Carmody, M.;
- Pasko, J. G.;
- Edwall, D.;
- Bailey, R.;
- Arias, J.;
- Cabelli, S.;
- Bajaj, J.;
- Almeida, L. A.;
- Dinan, J. H.;
- Groenert, M.;
- Stoltz, A. J.;
- Chen, Y.;
- Brill, G.;
- Dhar, N. K.
- Article
25
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 820, doi. 10.1007/s11664-005-0027-3
- Velicu, S.;
- Lee, T. S.;
- Grein, C. H.;
- Boieriu, P.;
- Chen, Y. P.;
- Dhar, N. K.;
- Dinan, J.;
- Lianos, D.
- Article
26
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 815, doi. 10.1007/s11664-005-0026-4
- Niraula, M.;
- Yasuda, K.;
- Takagi, K.;
- Kusama, H.;
- Tominaga, M.;
- Yamamoto, Y.;
- Agata, Y.;
- Suzuki, K.
- Article
27
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 811, doi. 10.1007/s11664-005-0025-5
- Becker, C. R.;
- Latussek, V.;
- Landwehr, G.;
- Bini, R.;
- Ulivi, L.
- Article
28
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 768, doi. 10.1007/s11664-005-0018-4
- Littler, C. L.;
- Gorman, B. P.;
- Weirauch, D. F.;
- Liao, P. K.;
- Schaake, H. F.
- Article
29
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 804, doi. 10.1007/s11664-005-0024-6
- Carini, G. A.;
- Camarda, G. S.;
- Zhong, Z.;
- Siddons, D. P.;
- Bolotnikov, A. E.;
- Wright, G. W.;
- Barber, B.;
- Arnone, C.;
- James, R. B.
- Article
30
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 791, doi. 10.1007/s11664-005-0022-8
- Furstenberg, Robert;
- White, Jeffrey O.;
- Olson, Gregory L.
- Article
31
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 786, doi. 10.1007/s11664-005-0021-9
- Neretina, S.;
- Sochinskii, N. V.;
- Mascher, P.
- Article
32
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 779, doi. 10.1007/s11664-005-0020-x
- Nosho, Brett Z.;
- Roth, John A.;
- Jensen, John E.;
- Pham, Le
- Article
33
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 773, doi. 10.1007/s11664-005-0019-3
- Moazzami, K.;
- Phillips, J.;
- Lee, D.;
- Krishnamurthy, S.;
- Benoit, G.;
- Fink, Y.;
- Tiwald, T.
- Article
34
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 795, doi. 10.1007/s11664-005-0023-7
- Sewell, R. H.;
- Musca, C. A.;
- Dell, J. M.;
- Faraone, L.;
- Usher, B. F.;
- Dieing, T.
- Article
35
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 762, doi. 10.1007/s11664-005-0017-5
- Daraselia, M.;
- Carmody, M.;
- Edwall, D. D.;
- Tiwald, T. E.
- Article
36
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 758, doi. 10.1007/s11664-005-0016-6
- Varesi, J. B.;
- Benson, J. D.;
- Martinka, M.;
- Stoltz, A. J.;
- Mason, W. E.;
- Almeida, L. A.;
- Kaleczyc, A. W.;
- Boyd, P. R.;
- Dinan, J. H.
- Article
37
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 754, doi. 10.1007/s11664-005-0015-7
- Sheng, H.;
- Saraf, G.;
- Emanetoglu, N. W.;
- Hill, D. H.;
- Lu, Y.
- Article
38
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 746, doi. 10.1007/s11664-005-0014-8
- Smith, E. P. G.;
- Venzor, G. M.;
- Newton, M. D.;
- Liguori, M. V.;
- Gleason, J. K.;
- Bornfreund, R. E.;
- Johnson, S. M.;
- Benson, J. D.;
- Stoltz, A. J.;
- Varesi, J. B.;
- Dinan, J. H.;
- Radford, W. A.
- Article
39
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 740, doi. 10.1007/s11664-005-0013-9
- Laffosse, E.;
- Baylet, J.;
- Chamonal, J. P.;
- Destefanis, G.;
- Cartry, G.;
- Cardinaud, C.
- Article
40
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 733, doi. 10.1007/s11664-005-0012-x
- Stoltz, A. J.;
- Sperry, M. J.;
- Benson, J. D.;
- Varesi, J. B.;
- Martinka, M.;
- Almeida, L. A.;
- Boyd, P. R.;
- Dinan, J. H.
- Article
41
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 726, doi. 10.1007/s11664-005-0011-y
- Benson, J. D.;
- Stoltz, A. J.;
- Varesi, J. B.;
- Almeida, L. A.;
- Smith, E. P. G.;
- Johnson, S. M.;
- Martinka, M.;
- Kaleczyc, A. W.;
- Markunas, J. K.;
- Boyd, P. R.;
- Dinan, J. H.
- Article
42
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 722, doi. 10.1007/s11664-005-0010-z
- Walther, M.;
- Rehm, R.;
- Fuchs, F.;
- Schmitz, J.;
- Fleißner, J.;
- Cabanski, W.;
- Eich, D.;
- Finck, M.;
- Rode, W.;
- Wendler, J.;
- Wollrab, R.;
- Ziegler, J.
- Article
43
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 716, doi. 10.1007/s11664-005-0009-5
- Antoszewski, J.;
- Winchester, K. J.;
- Keating, A. J.;
- Nguyen, T.;
- Silva, K. K. M. B. D.;
- Musca, C. A.;
- Dell, J. M.;
- Faraone, L.;
- Mitra, P.;
- Beck, J. D.;
- Skokan, M. R.;
- Robinson, J. E.
- Article
44
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 710, doi. 10.1007/s11664-005-0008-6
- Wehner, J. G. A.;
- Sewell, R. H.;
- Antoszewski, J.;
- Musca, C. A.;
- Dell, J. M.;
- Faraone, L.
- Article
45
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 704, doi. 10.1007/s11664-005-0007-7
- Bommena, R.;
- Fulk, C.;
- Zhao, Jun;
- Lee, T. S.;
- Sivananthan, S.;
- Brueck, S. R. J.;
- Hersee, S. D.
- Article
46
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 699, doi. 10.1007/s11664-005-0006-8
- Murphy, T. E.;
- Chen, D. Y.;
- Phillips, J. D.
- Article
47
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 693, doi. 10.1007/s11664-005-0005-9
- Pelliciari, B.;
- Dierre, F.;
- Brellier, D.;
- Verger, L.;
- Glasser, F.;
- Schaub, B.
- Article
48
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 687, doi. 10.1007/s11664-005-0004-x
- Audet, N.;
- Guskov, V. N.;
- Greenberg, J. H.
- Article
49
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 683, doi. 10.1007/s11664-005-0003-y
- Article
50
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 682, doi. 10.1007/s11664-005-0002-z
- Article