Works matching IS 02531933 AND DT 2023 AND VI 42
1
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 242, doi. 10.20506/rst.42.3367
- Cáceres, P.;
- Awada, L.;
- Weber-Vintzel, L.;
- Morales, R.;
- Meske, M.;
- Tizzani, P.
- Article
2
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 230, doi. 10.20506/rst.42.3366
- Guitian, J.;
- Arnold, M.;
- Chang, Y.;
- Snary, E. L.
- Article
3
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 218, doi. 10.20506/rst.42.3365
- Raymond, K.;
- BenSassi, N.;
- Patterson, G. T.;
- Huntington, B.;
- Rushton, J.;
- Stacey, D. A.;
- Bernardo, T. M.
- Article
4
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 210, doi. 10.20506/rst.42.3364
- van Schaik, G.;
- Madouasse, A.;
- van Roon, A. M.;
- More, S. J.;
- Graham, D. A.;
- Frössling, J.;
- Gethmann, J.;
- Fourichon, C.;
- Mercat, M.;
- Ågren, E.;
- Sauter-Louis, C.;
- Gunn, G.;
- Eze, J.;
- Humphry, R.;
- Henry, M. K.;
- Guelbenzu, M.;
- Nielen, M.;
- Santman-Berends, I. M. G. A.
- Article
5
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 201, doi. 10.20506/rst.42.3363
- Jeannin, M.;
- Magongo, M.;
- Gochez, D.;
- Valsson, O.;
- Erlacher-Vindel, E.;
- Davies, B.;
- Arroyo Kuribreña, M.;
- Yugueros-Marcos, J.
- Article
6
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 189, doi. 10.20506/rst.42.3362
- Peters, A. R.;
- Thevasagayam, S.
- Article
7
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 180, doi. 10.20506/rst.42.3361
- Avigad, R.;
- Ellis-Iversen, J.;
- Gibbens, J.;
- Hepple, R.;
- Paterson, A.
- Article
8
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 173, doi. 10.20506/rst.42.3360
- Smith, G. C.;
- Kao, R. R.;
- Walker, M.
- Article
9
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 161, doi. 10.20506/rst.42.3359
- Delgado, M.;
- Ferrari, N.;
- Fanelli, A.;
- Muset, S.;
- Thompson, L.;
- Sleeman, J. M.;
- White, C. L.;
- Walsh, D.;
- Wannous, C.;
- Tizzani, P.
- Article
10
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 149, doi. 10.20506/rst.42.3358
- Schettino, D.;
- Lantigua, E.;
- Perez, D.;
- Beemer, O.;
- Remmenga, M.;
- Vanicek, C.;
- Lopes, G.;
- Arzt, J.;
- Reyes, R.;
- Perez, A.
- Article
11
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 137, doi. 10.20506/rst.42.3357
- Drewe, J. A.;
- George, J.;
- Häsler, B.
- Article
12
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 128, doi. 10.20506/rst.42.3356
- Hill-Ernesto, R.;
- Simons, R. R. L.;
- Evans, D.;
- Horigan, V.
- Article
13
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 120, doi. 10.20506/rst.42.3355
- Drewe, J. A.;
- Snary, E. L.;
- Crotta, M.;
- Alarcon, P.;
- Guitian, J.
- Article
14
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 111, doi. 10.20506/rst.42.3354
- Article
15
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 103, doi. 10.20506/rst.42.3353
- Ellis, R. J.;
- Jenkins, T. L.
- Article
16
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 90, doi. 10.20506/rst.42.3352
- Horigan, V.;
- Kelly, L.;
- Papa, A.;
- Koopmans, M. P. G.;
- Sikkema, R. S.;
- Koren, L. G. H.;
- Snary, E. L.
- Article
17
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 83, doi. 10.20506/rst.42.3351
- Gao, L.;
- Liu, H.;
- Guo, F.;
- Wang, Y.
- Article
18
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 75, doi. 10.20506/rst.42.3350
- Mitchell, A.;
- Alexander, N.;
- Ellerbeck, J.;
- Enticott, G.;
- Hogarth, P.;
- Prosser, A.;
- Lambert, L.;
- Hackett, D.;
- Tait, N.;
- Tiller, J.;
- Upton, P.;
- Wint, W.
- Article
19
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 65, doi. 10.20506/rst.42.3349
- Xue, D.;
- Collins, D.;
- Kauffman, M.;
- Dunbar, M.;
- Crowder, K.;
- Schwartz, S. M.;
- Ruple, A.
- Article
20
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 52, doi. 10.20506/rst.42.3348
- Spronk, T.;
- Green, A. L.;
- Vuolo, M.;
- Ruesch, L.;
- Edler, R.;
- Haley, C.;
- Scaria, J.;
- Hennings, J.;
- Dee, S.;
- Shivley, C. B.
- Article
21
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 42, doi. 10.20506/rst.42.3347
- Alarcon, P.;
- Strang, C. L.;
- Chang, Y. M.;
- Tak, M.
- Article
22
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 31, doi. 10.20506/rst.42.3346
- Estberg, L.;
- Luxton, J.;
- Spiegel, K.;
- Pelzel-McCluskey, A.;
- Gomez, B. L.;
- Vanden Eng, J. L.
- Article
23
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 24, doi. 10.20506/rst.42.3345
- Avendaño-Pérez, G.;
- Weber-Vintzel, L.
- Article
24
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 13, doi. 10.20506/rst.42.3344
- Article
25
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2023, v. 42, p. 10, doi. 10.20506/rst.42.3343
- Article