Works matching IS 01718096 AND DT 2020 AND VI 87 AND IP 11
1
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. I, doi. 10.1515/teme-2020-frontmatter7-8
- Article
2
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. 659, doi. 10.1515/teme-2020-0069
- Article
3
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. 732, doi. 10.1515/teme-2020-0057
- Wittich, Felix;
- Kistner, Lars;
- Kroll, Andreas;
- Schott, Christopher;
- Niendorf, Thomas
- Article
4
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. 714, doi. 10.1515/teme-2020-0056
- Schwär, Daniel;
- González, Germán;
- Segebade, Eric;
- Zanger, Frederik;
- Heizmann, Michael
- Article
5
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. 661, doi. 10.1515/teme-2020-0044
- Schulze, Volker;
- Zanger, Frederik;
- Stampfer, Benedict;
- Seewig, Jörg;
- Uebel, Julian;
- Zabel, Andreas;
- Wolter, Bernd;
- Böttger, David
- Article
6
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. 721, doi. 10.1515/teme-2020-0052
- Wimmer, Matthias;
- Shahul Hameed, Muhammed Zubair;
- Wölfle, Christoph;
- Weisbrodt, Vanessa;
- Zaeh, Michael Friedrich;
- Werner, Ewald;
- Krempaszky, Christian;
- Semm, Thomas
- Article
7
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. 674, doi. 10.1515/teme-2020-0046
- Strodick, Simon;
- Berteld, Kai;
- Schmidt, Robert;
- Biermann, Dirk;
- Zabel, Andreas;
- Walther, Frank
- Article
8
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. 704, doi. 10.1515/teme-2020-0045
- Fricke, Lara Vivian;
- Nguyen, Hai Nam;
- Breidenstein, Bernd;
- Denkena, Berend;
- Dittrich, Marc-André;
- Maier, Hans Jürgen;
- Zaremba, David
- Article
9
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. 694, doi. 10.1515/teme-2020-0053
- Uebel, Julian;
- Ankener, Werner;
- Basten, Stephan;
- Smaga, Marek;
- Kirsch, Benjamin;
- Seewig, Jörg;
- Beck, Tilmann;
- Aurich, Jan C.
- Article
10
- Technisches Messen, 2020, v. 87, n. 11, p. 683, doi. 10.1515/teme-2020-0050
- Meurer, Markus;
- Tekkaya, Berk;
- Augspurger, Thorsten;
- Pullen, Thomas;
- Schraknepper, Daniel;
- Bergs, Thomas;
- Münstermann, Sebastian
- Article