Works matching IS 01718096 AND DT 2018 AND VI 85 AND IP 3
1
- Technisches Messen, 2018, v. 85, n. 3, p. 202, doi. 10.1515/teme-2017-0063
- Maier, Georg;
- Pfaff, Florian;
- Becker, Florian;
- Pieper, Christoph;
- Gruna, Robin;
- Noack, Benjamin;
- Kruggel-Emden, Harald;
- Längle, Thomas;
- Hanebeck, Uwe D.;
- Wirtz, Siegmar;
- Scherer, Viktor;
- Beyerer, Jürgen
- Article
3
- Technisches Messen, 2018, v. 85, n. 3, p. 177, doi. 10.1515/teme-2017-0092
- Grimmler, Christina;
- Kuhfuß, Tamara;
- Heiden, Matthias;
- Schmidt, Heinar
- Article
4
- Technisches Messen, 2018, v. 85, n. 3, p. 167, doi. 10.1515/teme-2017-0090
- Meinlschmidt, Peter;
- Aderhold, Jochen;
- Schlüter, Friedrich
- Article
5
- Technisches Messen, 2018, v. 85, n. 3, p. 184, doi. 10.1515/teme-2017-0069
- Kopf, Michael;
- Gruna, Robin;
- Längle, Thomas;
- Beyerer, Jürgen
- Article
6
- Technisches Messen, 2018, v. 85, n. 3, p. 191, doi. 10.1515/teme-2017-0062
- Küter, Andries;
- Reible, Stefan;
- Geibig, Thomas;
- Nüßler, Dirk;
- Pohl, Nils
- Article
7
- Technisches Messen, 2018, v. 85, n. 3, p. 149, doi. 10.1515/teme-2017-0053
- Krippner, Wolfgang;
- Bauer, Sebastian;
- León, Fernando Puente
- Article
8
- Technisches Messen, 2018, v. 85, n. 3, p. 159, doi. 10.1515/teme-2017-0052
- Rosenberger, Maik;
- Chen Zhang;
- Günther, Karsten;
- Bergmann, Jean P.;
- Notni, Gunther
- Article