Works matching IS 00498246 AND DT 2005 AND VI 34 AND IP 4
1
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 330, doi. 10.1002/xrs.828
- Žitnik, M.;
- Jakomin, M.;
- Pelicon, P.;
- Rupnik, Z.;
- Simčič, J.;
- Budnar, M.;
- Grlj, N.;
- Marzi, B.
- Article
2
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 366, doi. 10.1002/xrs.839
- Güereca, G.;
- Ruvalcaba-Sil, J. L.
- Article
3
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 341, doi. 10.1002/xrs.830
- Král, J.;
- Voltr, J.;
- Proška, J.;
- Gabriel, J.;
- Baldrian, P.;
- Černý, J.;
- Švejda, J.
- Article
4
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 372, doi. 10.1002/xrs.841
- Reis, M. A.;
- Chaves, P. C.;
- Corregidor, V.;
- Barradas, N. P.;
- Alves, E.;
- Dimroth, F.;
- Bett, A. W.
- Article
5
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 381, doi. 10.1002/xrs.852
- Gontier, E.;
- Barberet, P.;
- Barbotteau, Y.;
- Gáspár, K.;
- Habchi, C.;
- Hunyadi, J.;
- Incerti, S.;
- Kiss, B.;
- Mavon, A.;
- Moretto, P.;
- Pouthier, T.;
- Rosdy, M.;
- Surlève-Bazeille, J. E.;
- Ynsa, M. D.
- Article
6
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 315, doi. 10.1002/xrs.823
- Miranda, J.;
- Barrera, V. A.;
- Espinosa, A. A.;
- Galindo, O. S.;
- Meinguer, J.
- Article
7
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 363, doi. 10.1002/xrs.838
- Ishii, K.;
- Yamazaki, H.;
- Matsuyama, S.;
- Galster, W.;
- Satoh, T.;
- Budnar, M.
- Article
8
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 279, doi. 10.1002/xrs.840
- Doyle, B. L.;
- Walsh, D. S.;
- Kotula, P. G.;
- Rossi, P.;
- Schülein, T.;
- Rohde, M.
- Article
9
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 263, doi. 10.1002/xrs.811
- Budnar, Miloš G.;
- Campbell, J. L. (Iain)
- Article
10
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 310, doi. 10.1002/xrs.822
- Kavčič, M.;
- Karydas, A. G.;
- Zarkadas, Ch.
- Article
11
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 350, doi. 10.1002/xrs.833
- Kudějová, Petra;
- Materna, Thomas;
- Jolie, Jan;
- Pascovici, George
- Article
12
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 285, doi. 10.1002/xrs.826
- Przybyłowicz, W. J.;
- Mesjasz-Przybyłowicz, J.;
- Migula, P.;
- Nakonieczny, M.;
- Augustyniak, M.;
- Tarnawska, M.;
- Turnau, K.;
- Ryszka, P.;
- Orłowska, E.;
- Zubek, Sz.;
- Głowacka, E.
- Article
13
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 269, doi. 10.1002/xrs.837
- Article
14
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 301, doi. 10.1002/xrs.819
- Morris, James A.;
- Rulifson, Roger A.;
- Babaluk, John A.;
- May, Paula G.;
- Campbell, John L.
- Article
15
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 306, doi. 10.1002/xrs.821
- Grassi, N.;
- Migliori, A.;
- Mandò, P. A.;
- Calvo del Castillo, H.
- Article
16
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 265, doi. 10.1002/xrs.843
- Article
17
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 393, doi. 10.1002/xrs.854
- Article
18
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 323, doi. 10.1002/xrs.825
- Chiari, M.;
- Lucarelli, F.;
- Mazzei, F.;
- Nava, S.;
- Paperetti, L.;
- Prati, P.;
- Valli, G.;
- Vecchi, R.
- Article
19
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 359, doi. 10.1002/xrs.836
- Jensen, J.;
- Folkmann, F.;
- Gunnlaugsson, H. P.;
- Merrison, J. P.;
- Kinch, K.;
- Knudsen, J. M.;
- Nørnberg, P.;
- Bertelsen, P.;
- Madsen, M. B.
- Article
20
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 297, doi. 10.1002/xrs.818
- Weber, G.;
- Martinot, L.;
- Strivay, D.;
- Garnir, H. P.;
- George, P.
- Article
21
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 335, doi. 10.1002/xrs.829
- Potiriadis, C.;
- Karydas, A. G.;
- Zarkadas, Ch.;
- Clouvas, A.
- Article
22
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 290, doi. 10.1002/xrs.820
- Maenhaut, Willy;
- Raes, Nico;
- Chi, Xuguang;
- Cafmeyer, Jan;
- Wang, Wan;
- Salma, Imre
- Article
23
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 345, doi. 10.1002/xrs.831
- Vaggelli, Gloria;
- Borghi, Alessandro;
- Cossio, Roberto;
- Fedi, Mariaelena;
- Fiora, Laura;
- Giuntini, Lorenzo;
- Massi, Mirko;
- Olmi, Filippo
- Article
24
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 376, doi. 10.1002/xrs.842
- Denker, A.;
- Bohne, W.;
- Campbell, J. L.;
- Heide, P.;
- Hopman, T.;
- Maxwell, J. A.;
- Opitz-Coutureau, J.;
- Rauschenberg, J.;
- Röhrich, J.;
- Strub, E.
- Article
25
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 389, doi. 10.1002/xrs.853
- Maeda, Kuniko;
- Hasegawa, Kenichi;
- Maeda, Masaru;
- Ogiwara, Kiyoshi;
- Hamanaka, Hiromi
- Article
26
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 320, doi. 10.1002/xrs.824
- Maxwell, J. A.;
- Campbell, J. L.
- Article
27
- XRS: X-ray Spectrometry, 2005, v. 34, n. 4, p. 355, doi. 10.1002/xrs.835
- Kern, A. L.;
- Bonatto, D.;
- Dias, J. F.;
- Yoneama, M.-L.;
- Brendel, M.;
- Henriques, J. A. P.
- Article