Works matching IS 00222720 AND DT 2006 AND VI 222 AND IP 2
1
- Journal of Microscopy, 2006, v. 222, n. 2, p. 97, doi. 10.1111/j.1365-2818.2006.01574.x
- Lopez-Pedrosa, M.;
- Wynne, B. P.;
- Rainforth, W. M.
- Article
2
- Journal of Microscopy, 2006, v. 222, n. 2, p. 69, doi. 10.1111/j.1365-2818.2006.01575.x
- Article
3
- Journal of Microscopy, 2006, v. 222, n. 2, p. 85, doi. 10.1111/j.1365-2818.2006.01576.x
- Cizek, P.;
- Wynne, B. P.;
- Rainforth, W. M.
- Article
4
- Journal of Microscopy, 2006, v. 222, n. 2, p. 105, doi. 10.1111/j.1365-2818.2006.01578.x
- Bewersdorf, J.;
- Schmidt, R.;
- Hell, S. W.
- Article
5
- Journal of Microscopy, 2006, v. 222, n. 2, p. 76, doi. 10.1111/j.1365-2818.2006.01577.x
- Chow, S. K.;
- Hakozaki, H.;
- Price, D. L.;
- MacLean, N. A. B.;
- Deerinck, T. J.;
- Bouwer, J. C.;
- Martone, M. E.;
- Peltier, S. T.;
- Ellisman, M. H.
- Article
6
- Journal of Microscopy, 2006, v. 222, n. 2, p. 124, doi. 10.1111/j.1365-2818.2006.01580.x
- Perilli, E.;
- Baruffaldi, F.;
- Bisi, M. C.;
- Cristofolini, L.;
- Cappello, A.
- Article
7
- Journal of Microscopy, 2006, v. 222, n. 2, p. 118, doi. 10.1111/j.1365-2818.2006.01579.x
- Lang, E.;
- Baier, J.;
- Köhler, J.
- Article
8
- Journal of Microscopy, 2006, v. 222, n. 2, p. 135, doi. 10.1111/j.1365-2818.2006.01581.x
- Moser, C.;
- Mayr, T.;
- Klimant, I.
- Article
