Works matching IS 00222720 AND DT 2005 AND VI 220 AND IP 2
1
- Journal of Microscopy, 2005, v. 220, n. 2, p. 84, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01505.x
- Beil, M.;
- Braxmeier, H.;
- Fleischer, F.;
- Schmidt, V.;
- Walther, P.
- Article
2
- Journal of Microscopy, 2005, v. 220, n. 2, p. 96, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01517.x
- Article
3
- 2005
- Thibaud, C.;
- Koubassov, V.;
- De Koninck, P.;
- Chin, S. L.;
- Koninck, Y.
- Other
4
- Journal of Microscopy, 2005, v. 220, n. 2, p. 77, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01518.x
- Poggi, M. A.;
- Mancosky, D. G.;
- Bottomley, L. A.;
- Lucia, L. A.
- Article
5
- Journal of Microscopy, 2005, v. 220, n. 2, p. 113, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01524.x
- Wilson, L.;
- Tonkin, M.;
- Bossinger, G.
- Article