Works matching IS 00222720 AND DT 2005 AND VI 218 AND IP 3
1
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 225, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01481.x
- Rahbek, O.;
- Kold, S.;
- Overgaard, S.;
- Soballe, K.
- Article
2
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 219, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01479.x
- McNally, L. R.;
- Henk, W. G.;
- Cooper, R. K.
- Article
3
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 199, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01480.x
- El Kirat, K.;
- Burton, I.;
- Dupres, V.;
- Dufrene, Y. F.
- Article
4
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 233, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01482.x
- Liu, Z.;
- Li, Z.;
- Zhou, H.;
- Wei, G.;
- Song, Y.;
- Wang, L.
- Article
5
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 253, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01483.x
- van Munster, E. B.;
- Kremers, G. J.;
- Adjobo-Hermans, M. J. W.;
- Gadella Jr., T. W. J.
- Article
6
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 208, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01484.x
- Ngwa, W.;
- Luo, W.;
- Kamanyi, A.;
- Fomba, K. W.;
- Grill, W.
- Article
7
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 247, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01485.x
- Léonard, A.;
- Blacher, S.;
- Marchot, P.;
- Pirard, J.-P.;
- Crine, M.
- Article
8
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 240, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.01486.x
- Tiago, C. G.;
- Brites, A. D.;
- Kawauchi, G. Y.
- Article
9
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 263, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.1487a.x
- Article
10
- Journal of Microscopy, 2005, v. 218, n. 3, p. 264, doi. 10.1111/j.1365-2818.2005.1487b.x
- Article