Works matching IS 00222720 AND DT 1985 AND VI 137 AND IP 2
1
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 155, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02573.x
- Echlin, Patrick;
- Gee, Wilf;
- Chapman, Brian
- Article
2
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 189, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02577.x
- Nordestgaard, B. G.;
- Rostgaard, J.
- Article
3
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 145, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02572.x
- Article
4
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 185, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02576.x
- Mazière, Ann M. G. L. De;
- Aertgeerts, Philip;
- Scheuermann, Dietrich W.
- Article
5
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 115, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02569.x
- Article
6
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 137, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02571.x
- Article
7
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 177, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02575.x
- Frösch, Dieter;
- Westphal, Christel
- Article
8
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. RP1, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02568.x
- Verheijen, R.;
- Oud, P.;
- Verrijp, C.;
- Feitz, W.;
- Kenemans, P.;
- Vooys, P.;
- Herman, C.
- Article
9
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 217, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02579.x
- Kalisch, W.-E.;
- Whitmore, T.;
- Siegel, A.
- Article
10
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 129, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02570.x
- Article
11
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 171, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02574.x
- Article
12
- Journal of Microscopy, 1985, v. 137, n. 2, p. 209, doi. 10.1111/j.1365-2818.1985.tb02578.x
- Article