Works matching IS 00222461 AND DT 2000 AND VI 35 AND IP 20
1
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5255, doi. 10.1023/A:1004876925821
- Späth, T.;
- Schwarz, I.;
- Petermann, J.
- Article
2
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5247, doi. 10.1023/A:1004824924912
- Mackley, M.;
- Moggridge, G.;
- Saquet, O.
- Article
3
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5241, doi. 10.1023/A:1004872808074
- Ungar, G.;
- Noble, K.;
- Percec, V.;
- Johansson, G.
- Article
4
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5225, doi. 10.1023/A:1004820824004
- Welsh, G.;
- Blundell, D.;
- Windle, A.
- Article
5
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5215, doi. 10.1023/A:1004868707165
- Ge, J.;
- Zhang, J.;
- Zhou, Wensheng;
- Li, C.;
- Jin, Shi;
- Calhoun, B.;
- Wang, Shy-Yeu;
- Harris, F.;
- Cheng, S.
- Article
6
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5207, doi. 10.1023/A:1004816723095
- Dair, B.;
- Avgeropoulos, A.;
- Hadjichristidis, N.;
- Thomas, E.
- Article
7
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5199, doi. 10.1023/A:1004864606257
- Ania, F.;
- Rueda, D.;
- Calleja, F.;
- Krosigk, G.
- Article
8
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5187, doi. 10.1023/A:1004860522186
- Tsunoda, K.;
- Busfield, J.;
- Davies, C.;
- Thomas, A.
- Article
9
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5179, doi. 10.1023/A:1004808521278
- Atkins, E.;
- Hill, M.;
- Jones, N.;
- Sikorski, P.
- Article
10
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5169, doi. 10.1023/A:1004856404439
- Lu, Jianjun;
- Sue, Hung-Jue;
- Rieker, Thomas
- Article
11
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5157, doi. 10.1023/A:1004804420369
- Hikosaka, M.;
- Amano, K.;
- Rastogi, S.;
- Keller, A.
- Article
12
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5147, doi. 10.1023/A:1004800303531
- Loos, J.;
- Tian, M.;
- Rastogi, S.;
- Lemstra, P.
- Article
13
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5139, doi. 10.1023/A:1004896002622
- Article
14
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5121, doi. 10.1023/A:1004844001714
- Article
15
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5111, doi. 10.1023/A:1004891917643
- James, P.;
- Elliott, J.;
- McMaster, T.;
- Newton, J.;
- Elliott, A.;
- Hanna, S.;
- Miles, M.
- Article
16
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5101, doi. 10.1023/A:1004839900805
- Lee, S.;
- Bassett, D.;
- Olley, R.
- Article
17
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5091, doi. 10.1023/A:1004835816735
- Hine, P.;
- Ward, I.;
- Maaty, M.;
- Olley, R.;
- Bassett, D.
- Article
18
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5085, doi. 10.1023/A:1004883715826
- Toda, A.;
- Arita, T.;
- Hikosaka, M.
- Article
19
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5071, doi. 10.1023/A:1004831731756
- Sabino, M.;
- Ronca, G.;
- Müller, A.
- Article
20
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5065, doi. 10.1023/A:1004879614917
- Cruz-Estrada, R.;
- Folkes, M.
- Article
21
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5057, doi. 10.1023/A:1004827630847
- Blundell, D.;
- Mahendrasingam, A.;
- Martin, C.;
- Fuller, W.
- Article
22
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5047, doi. 10.1023/A:1004875514009
- Liu, T.;
- Yan, S.;
- Bonnet, M.;
- Lieberwirth, I.;
- Rogausch, K.-D.;
- Petermann, J.
- Article
23
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5029, doi. 10.1023/A:1004823529939
- Article
24
- Journal of Materials Science, 2000, v. 35, n. 20, p. 5021, doi. 10.1023/A:1004871413100
- Kramarenko, V.;
- Ezquerra, T.;
- Baltá-Calleja, F.;
- Privalko, V.
- Article