Works matching IS 0006341X AND DT 2009 AND VI 65 AND IP 2
1
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 353, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01069.x
- Article
2
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 423, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01070.x
- Henrys, P. A.;
- Brown, P. E.
- Article
3
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 640, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01066.x
- Little, Roderick J.;
- Qi Long;
- Xihong Lin
- Article
4
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 341, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01064.x
- Maitra, Ranjan;
- Ramler, Ivan P.
- Article
5
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 547, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01065.x
- Article
6
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 452, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01067.x
- Klingenberg, B.;
- Solari, . A.;
- Salmaso, L.;
- Pesarin, F.
- Article
7
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 431, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01071.x
- Article
8
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 487, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01068.x
- Ying Yuan;
- Little, Roderick J. A.
- Article
9
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 385, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01072.x
- Yu Cheng;
- Fine, Jason P.;
- Kosorok, Michael R.
- Article
10
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 572, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01073.x
- Newman, Ken B.;
- Fernández, Carmen;
- Thomas, Len;
- Buckland, Stephen T.
- Article
11
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 394, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01074.x
- Cai, T.;
- Huang, J.;
- Tian, L.
- Article
12
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 463, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01075.x
- Hye-Seung Lee;
- Myunghee Cho Paik;
- Lee, Joseph H.
- Article
13
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 415, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01076.x
- French, Benjamin;
- Heagerty, Patrick J.
- Article
14
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 405, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01077.x
- Sangwook Kang;
- Jianwen Cai
- Article
15
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 599, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01096.x
- Langholz, Bryan;
- Thomas, Duncan C.;
- Stovall, Marilyn;
- Smith, Susan A.;
- Boice Jr., John D.;
- Shore, Roy E.;
- Bernstein, Leslie;
- Lynch, Charles F.;
- Xinbo Zhang;
- Bernstein, Jonine L.
- Article
16
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 609, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01097.x
- Ritz, Christian;
- Streibig, Jens C.
- Article
17
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 564, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01099.x
- Article
18
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 584, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01098.x
- Rui Feng;
- Gongfu Zhou;
- Meizhuo Zhang;
- Heping Zhang
- Article
19
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 470, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01100.x
- Article
20
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 539, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01101.x
- Brannath, Werner;
- Mehta, Cyrus R.;
- Posch, Martin
- Article
21
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 478, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01102.x
- Ying Yuan;
- Little, Roderick J. A.
- Article
22
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 361, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01103.x
- Article
23
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 377, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01104.x
- Yu Liang;
- Wenbin Lu;
- Zhiliang Ying
- Article
24
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 618, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01105.x
- Article
25
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 530, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01106.x
- Joffe, Marshall M.;
- Greene, Tom
- Article
26
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 369, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01107.x
- Saville, Benjamin R.;
- Herring, Amy H.
- Article
27
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 514, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01108.x
- Sjölander, Arvid;
- Humphreys, Keith;
- Vansteelandt, Stijn;
- Bellocco, Rino;
- Palmgren, Juni
- Article
28
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 521, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01109.x
- Article
29
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 590, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01110.x
- Gregoire, Timothy G.;
- Salas, Christian
- Article
30
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 497, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01111.x
- Egleston, Brian L.;
- Scharfstein, Daniel O.;
- MacKenzie, Ellen
- Article
31
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 626, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01112.x
- Kneib, Thomas;
- Hothorn, Torsten;
- Tutz, Gerhard
- Article
33
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 635, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01114.x
- Shardell, Michelle D.;
- El-Kamary, Samer S.
- Article
34
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 441, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01115.x
- Finley, Andrew O.;
- Banerjee, Sudipto;
- Waldmann, Patrik;
- Ericsson, Tore
- Article
37
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 505, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01113.x
- Lin, Julia Y.;
- Have, Thomas R. Ten;
- Elliott, Michael R.
- Article
40
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 554, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01116.x
- Ward, Gill;
- Hastie, Trevor;
- Barry, Simon;
- Elith, Jane;
- Leathwick, John R.
- Article
41
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 650, doi. 10.1111/j.1541-0420.2008.01117.x
- Carlson, Nichole E.;
- Johnson, Timothy D.;
- Brown, Morton B.
- Article
43
- Biometrics, 2009, v. 65, n. 2, p. 672, doi. 10.1111/j.1541-0420.2009.01247_15.x
- Article