Works matching AU Dhar, N
1
- 1988
- Singhal, P.;
- Balkrishna, M.;
- Dhar, N.;
- Mullick, D.;
- Bohra, Neena;
- Singhal, P K;
- Bhatia, M S;
- Balkrishna;
- Dhar, N K;
- Mullick, D N;
- Bohra, N
- journal article
2
- 1988
- Bhatia, M.;
- Singhal, P.;
- Balkrishna;
- Dhar, N.;
- Bhatia, M S;
- Singhal, P K;
- Dhar, N K
- journal article
3
- Nature, 1932, v. 130, n. 3278, p. 313, doi. 10.1038/130313c0
- Article
4
- Nature, 1932, v. 129, n. 3264, p. 761, doi. 10.1038/129761b0
- DHAR, N. R.;
- MITTRA, R. N.
- Article
5
- Nature, 1932, v. 129, n. 3249, p. 205, doi. 10.1038/129205b0
- Article
6
- Himalayan & Central Asian Studies, 2007, v. 11, n. 2, p. 59
- Article
7
- Himalayan & Central Asian Studies, 2007, v. 11, n. 2, p. 49
- Article
8
- QJM: An International Journal of Medicine, 2021, v. 114, n. 3, p. 202, doi. 10.1093/qjmed/hcaa216
- Manchanda, R;
- Dhar, N;
- Kumar, M;
- Kumar, N;
- Tiwari, A
- Article
9
- 1979
- Bell, Philip W.;
- Balassa, Bela;
- Schotter, Andrew;
- Rennie, Henry G.;
- Dhar, P. N.;
- Best, Alan C. G.;
- Morawetz, David;
- Lewis, J. Patrick
- Book Review
14
- Literary Criterion, 2022, v. 57, n. 3/4, p. 1
- Article
19
- Journal of Electronic Materials, 2017, v. 46, n. 9, p. 5357, doi. 10.1007/s11664-017-5661-z
- Sivananthan, S.;
- Anter, Y.;
- Dhar, N.
- Article
20
- Journal of Electronic Materials, 2016, v. 45, n. 9, p. 4654, doi. 10.1007/s11664-016-4602-6
- Schuster, J.;
- DeWames, R.;
- DeCuir, E.;
- Bellotti, E.;
- Dhar, N.;
- Wijewarnasuriya, P.
- Article
21
- Journal of Electronic Materials, 2015, v. 44, n. 9, p. 3151, doi. 10.1007/s11664-015-3852-z
- Bommena, R.;
- Ketharanathan, S.;
- Wijewarnasuriya, P.;
- Dhar, N.;
- Kodama, R.;
- Zhao, J.;
- Buurma, C.;
- Bergeson, J.;
- Aqariden, F.;
- Velicu, S.
- Article
22
- Journal of Electronic Materials, 2013, v. 42, n. 11, p. 2999, doi. 10.1007/s11664-013-2760-3
- Sivananthan, S.;
- Dhar, N.;
- Anter, Y.
- Article
23
- Journal of Electronic Materials, 2013, v. 42, n. 11, p. 3097, doi. 10.1007/s11664-013-2657-1
- Farrell, S.;
- Rao, Mulpuri;
- Brill, G.;
- Chen, Y.;
- Wijewarnasuriya, P.;
- Dhar, N.;
- Benson, J.;
- Harris, K.
- Article
24
- Journal of Electronic Materials, 2012, v. 41, n. 10, p. 2671, doi. 10.1007/s11664-012-2182-7
- D'Souza, A.I.;
- Robinson, E.;
- Ionescu, A.C.;
- Okerlund, D.;
- Lyon, T.J.;
- Sharifi, H.;
- Roebuck, M.;
- Yap, D.;
- Rajavel, R.D.;
- Dhar, N.;
- Wijewarnasuriya, P.S.;
- Grein, C.
- Article
25
- Journal of Electronic Materials, 2012, v. 41, n. 10, p. 2661, doi. 10.1007/s11664-012-2236-x
- Sivananthan, S.;
- Dhar, N.;
- Anter, Y.
- Article
26
- Journal of Electronic Materials, 2011, v. 40, n. 8, p. 1613, doi. 10.1007/s11664-011-1678-x
- Sivananthan, S.;
- Dhar, N.;
- Anter, Y.
- Article
27
- Journal of Electronic Materials, 2011, v. 40, n. 8, p. 1727, doi. 10.1007/s11664-011-1669-y
- Farrell, S.;
- Rao, Mulpuri;
- Brill, G.;
- Chen, Y.;
- Wijewarnasuriya, P.;
- Dhar, N.;
- Benson, D.;
- Harris, K.
- Article
28
- Journal of Electronic Materials, 2010, v. 39, n. 7, p. 967, doi. 10.1007/s11664-010-1142-3
- Brill, G.;
- Farrell, S.;
- Chen, Y. P.;
- Wijewarnasuriya, P. S.;
- Rao, Mulpuri V.;
- Benson, J. D.;
- Dhar, N.
- Article
29
- 2010
- Sivananthan, S.;
- Dhar, N. K.;
- Anter, Y.;
- Casselman, T. N.
- Editorial
30
- Journal of Electronic Materials, 2010, v. 39, n. 1, p. 43, doi. 10.1007/s11664-009-0956-3
- Farrell, S.;
- Brill, G.;
- Chen, Y.;
- Wijewarnasuriya, P.;
- Rao, Mulpuri;
- Dhar, N.;
- Harris, K.
- Article
31
- Journal of Electronic Materials, 2009, v. 38, n. 11, p. 2343, doi. 10.1007/s11664-009-0907-z
- Taylor, P. J.;
- Dhar, N. K.;
- Harris, E.;
- Swaminathan, V.;
- Chen, Y.;
- Jesser, W. A.
- Article
32
- 2009
- Sivananthan, S.;
- Anter, Y.;
- Dhar, N. K.
- Editorial
33
- Journal of Electronic Materials, 2008, v. 37, n. 9, p. 1165, doi. 10.1007/s11664-008-0505-5
- Sivananthan, S.;
- Anter, Y.;
- Dhar, N. K.
- Article
34
- Journal of Electronic Materials, 2008, v. 37, n. 9, p. 1184, doi. 10.1007/s11664-008-0434-3
- CARMODY, M.;
- PASKO, J. G.;
- EDWALL, D.;
- PIQUETTE, E.;
- KANGAS, M.;
- FREEMAN, S.;
- ARIAS, J.;
- JACOBS, R.;
- MASON, W.;
- STOLTZ, A.;
- CHEN, Y.;
- DHAR, N. K.
- Article
35
- Journal of Electronic Materials, 2008, v. 37, n. 9, p. 1362, doi. 10.1007/s11664-008-0427-2
- EMELIE, P. Y.;
- VELICU, S.;
- GREIN, C. H.;
- PHILLIPS, J. D.;
- WIJEWARNASURIYA, P. S.;
- DHAR, N. K.
- Article
36
- Journal of Electronic Materials, 2007, v. 36, n. 8, p. 1098, doi. 10.1007/s11664-007-0182-9
- Carmody, M.;
- Edwall, D.;
- Ellsworth, J.;
- Arias, J.;
- Groenert, M.;
- Jacobs, R.;
- Almeida, L. A.;
- Dinan, J. H.;
- Chen, Y.;
- Brill, G;
- Dhar, N. K.
- Article
37
- Journal of Electronic Materials, 2007, v. 36, n. 8, p. 821, doi. 10.1007/s11664-007-0180-y
- Sivananthan, S.;
- Anter, Y.;
- Dhar, N. K.
- Article
38
- Journal of Electronic Materials, 2006, v. 35, n. 6, p. 1449, doi. 10.1007/s11664-006-0282-y
- Fulk, C.;
- Sivananthan, S.;
- Zavitz, D.;
- Singh, R.;
- Trenary, M.;
- Chen, Y. P.;
- Brill, G.;
- Dhar, N.
- Article
39
- Journal of Electronic Materials, 2006, v. 35, n. 6, p. 1417, doi. 10.1007/s11664-006-0277-8
- Carmody, M.;
- Pasko, J. G.;
- Edwall, D.;
- Bailey, R.;
- Arias, J.;
- Groenert, M.;
- Almeida, L. A.;
- Dinan, J. H.;
- Chen, Y.;
- Brill, G.;
- Dhar, N. K.
- Article
40
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 832, doi. 10.1007/s11664-005-0028-2
- Carmody, M.;
- Pasko, J. G.;
- Edwall, D.;
- Bailey, R.;
- Arias, J.;
- Cabelli, S.;
- Bajaj, J.;
- Almeida, L. A.;
- Dinan, J. H.;
- Groenert, M.;
- Stoltz, A. J.;
- Chen, Y.;
- Brill, G.;
- Dhar, N. K.
- Article
41
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 820, doi. 10.1007/s11664-005-0027-3
- Velicu, S.;
- Lee, T. S.;
- Grein, C. H.;
- Boieriu, P.;
- Chen, Y. P.;
- Dhar, N. K.;
- Dinan, J.;
- Lianos, D.
- Article
42
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 6, p. 681, doi. 10.1007/s11664-005-0001-0
- Sivananthan, S.;
- Dhar, N. K.;
- Anter, Y.
- Article
43
- Journal of Electronic Materials, 2005, v. 34, n. 5, p. 655, doi. 10.1007/s11664-005-0080-y
- Brill, G.;
- Chen, Y.;
- Amirtharaj, P. M.;
- Sarney, W.;
- Chandler-Horowitz, D.;
- Dhar, N. K.
- Article
44
- Journal of Electronic Materials, 2004, v. 33, n. 8, p. 881, doi. 10.1007/s11664-004-0215-6
- Zhao, J.;
- Chang, Y.;
- Badano, G.;
- Sivananthan, S.;
- Markunas, J.;
- Lewis, S.;
- Dinan, J. H.;
- Wijewarnasuriya, P. S.;
- Chen, Y.;
- Brill, G.;
- Dhar, N.
- Article
45
- Journal of Electronic Materials, 2004, v. 33, n. 6, p. 531, doi. 10.1007/s11664-004-0042-9
- Carmody, M.;
- Pasko, J. G.;
- Edwall, D.;
- Daraselia, M.;
- Almeida, L. A.;
- Molstad, J.;
- Dinan, J. H.;
- Markunas, J. K.;
- Chen, Y.;
- Brill, G.;
- Dhar, N. K.
- Article
46
- Journal of Electronic Materials, 2004, v. 33, n. 6, p. 498, doi. 10.1007/s11664-004-0037-6
- Chen, Y. P.;
- Brill, G.;
- Campo, E. M.;
- Hierl, T.;
- Hwang, J. C. M.;
- Dhar, N. K.
- Article
47
- Journal of Electronic Materials, 2004, v. 33, n. 6, p. 487, doi. 10.1007/s11664-004-0035-8
- Sivananthan, S.;
- Dhar, N. K.;
- Anter, Y.
- Article
48
- Clinical Pediatrics, 1990, v. 29, n. 6, p. 311
- Bhatia, M. S.;
- Dhar, N. K.;
- Singhal, P. K.;
- Nigam, V. A.;
- Malik, S. C.;
- Mullick, D. N.
- Article