Works by CIRLIN, G. E.
1
- International Journal of Nanoscience, 2007, v. 6, n. 5, p. 319
- FÜRST, J.;
- PASCHER, H.;
- SHALYGIN, V. A.;
- VOROBJEV, L. E.;
- FIRSOV, D. A.;
- TONKIKH, A. A.;
- POLYAKOV, N. K.;
- SAMSONENKO, YU. B.;
- CIRLIN, G. E.;
- USTINOV, V. M.
- Article
2
- International Journal of Nanoscience, 2007, v. 6, n. 3/4, p. 225, doi. 10.1142/S0219581X07004626
- DUBROVSKII, V. G.;
- SOSHNIKOV, I. P.;
- TONKIKH, A. A.;
- USTINOV, V. M.;
- CIRLIN, G. E.;
- SAMSONENKO, YU. B.
- Article
3
- International Journal of Nanoscience, 2007, v. 6, n. 3/4, p. 241, doi. 10.1142/S0219581X0700464X
- FIRSOV, D. A.;
- VOROBJEV, L. E.;
- BARZILOVICH, M. A.;
- YU. PANEVIN, V.;
- MIKHAYLOV, I. V.;
- FEDOSOV, N. K.;
- SHALYGIN, V. A.;
- TONKIKH, A. A.;
- POLYAKOV, N. K.;
- SAMSONENKO, YU. B.;
- CIRLIN, G. E.;
- ZHUKOV, A. E.;
- PIKHTIN, N. A.;
- TARASOV, I. S.;
- USTINOV, V. M.;
- JULIEN, F. H.;
- SEKOWSKI, M.;
- HANNA, S.;
- SEILMEIER, A.
- Article
4
- International Journal of Nanoscience, 2007, v. 6, n. 3/4, p. 249, doi. 10.1142/S0219581X07004651
- GAISIN, V. A.;
- NOVIKOV, B. V.;
- SOKOLOV, A. S.;
- SHTROM, I. V.;
- CHUGUNOV, V. A.;
- TALALAEV, V. G.;
- ZAKHAROV, N. D.;
- CIRLIN, G. E.;
- SAMSONENKO, YU. B.;
- TONKIKH, A. A.;
- USTINOV, V. P.
- Article
5
- Microscopy & Microanalysis, 2003, v. 9, p. 282, doi. 10.1017/S1431927603023407
- Zakharov, N. D.;
- Talalaev, V. G.;
- Cirlin, G. E.;
- Tonkikh, A.;
- Werner, P.
- Article
6
- Optics & Spectroscopy, 2024, v. 132, n. 4, p. 378, doi. 10.1134/S0030400X24040106
- Khrebtov, A. I.;
- Kulagina, A. S.;
- Sibirev, N. V.;
- Yablonskiy, A. N.;
- Ruban, A. S.;
- Reznik, R. R.;
- Cirlin, G. E.;
- Danilov, V. V.
- Article
7
- Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron & Neutron Techniques, 2024, v. 18, n. 4, p. 796, doi. 10.1134/S1027451024700460
- Lendyashova, V. V.;
- Ilkiv, I. V.;
- Borodin, B. R.;
- Kirilenko, D. A.;
- Dragunova, A. S.;
- Shugabaev, T.;
- Cirlin, G. E.
- Article
8
- Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron & Neutron Techniques, 2024, v. 18, n. 2, p. 408, doi. 10.1134/S1027451024020289
- Gridchin, V. O.;
- Komarov, S. D.;
- Soshnikov, I. P.;
- Shtrom, I. V.;
- Reznik, R. R.;
- Kryzhanovskaya, N. V.;
- Cirlin, G. E.
- Article
9
- Semiconductors, 2000, v. 34, n. 7, p. 810, doi. 10.1134/1.1188079
- Petrov, V. N.;
- Polyakov, N. K.;
- Egorov, V. A.;
- Cirlin, G. E.;
- Zakharov, N. D.;
- Werner, P.;
- Ustinov, V. M.;
- Denisov, D. V.;
- Ledentsov, N. N.;
- Alferov, Zh. I.
- Article
10
- Technical Physics Letters, 2024, v. 50, n. 2, p. 164, doi. 10.1134/S1063785023170224
- Sibirev, N. V.;
- Berdnikov, Y. S.;
- Shtrom, I. V.;
- Ubyivovk, E. V.;
- Reznik, R. R.;
- Cirlin, G. E.
- Article
11
- Technical Physics Letters, 2023, v. 49, p. S364, doi. 10.1134/S106378502390073X
- Gridchin, V. O.;
- Soshnikov, I. P.;
- Reznik, R. R.;
- Komarov, S. D.;
- Pirogov, E. V.;
- Lendyashova, V. V.;
- Kotlyar, K. P.;
- Kryzhanovskaya, N. V.;
- Cirlin, G. E.
- Article
12
- 2022
- Kulagina, A. S.;
- Trukhin, V. N.;
- Stupin, D. D.;
- Chernev, A. L.;
- Dubina, M. V.;
- Cirlin, G. E.
- Correction Notice
13
- Technical Physics Letters, 2021, v. 47, n. 12, p. 862, doi. 10.1134/S106378502109008X
- Kulagina, A. S.;
- Trukhin, V. N.;
- Stupin, D. D.;
- Chernev, A. L.;
- Dubina, M. V.;
- Cirlin, G. E.
- Article
14
- Technical Physics Letters, 2021, v. 47, n. 5, p. 405, doi. 10.1134/S106378502104026X
- Reznik, R. R.;
- Morozov, K. M.;
- Krestnikov, I. L.;
- Kotlyar, K. P.;
- Soshnikov, I. P.;
- Leandro, L.;
- Akopian, N.;
- Cirlin, G. E.
- Article
15
- Technical Physics Letters, 2020, v. 46, n. 11, p. 1080, doi. 10.1134/S1063785020110061
- Gridchin, V. O.;
- Kotlyar, K. P.;
- Reznik, R. R.;
- Dvoretskaya, L. N.;
- Parfen'eva, A. V.;
- Mukhin, I. S.;
- Cirlin, G. E.
- Article
16
- Technical Physics Letters, 2019, v. 45, n. 11, p. 1111, doi. 10.1134/S1063785019110129
- Reznik, R. R.;
- Kotlyar, K. P.;
- Kryzhanovskaya, N. V.;
- Morozov, S. V.;
- Cirlin, G. E.
- Article
17
- Technical Physics Letters, 2019, v. 45, n. 8, p. 835, doi. 10.1134/S1063785019080212
- Grigorieva, N. R.;
- Shtrom, I. V.;
- Grigoriev, R. V.;
- Soshnikov, I. P.;
- Reznik, R. R.;
- Samsonenko, Yu. B.;
- Sibirev, N. V.;
- Cirlin, G. E.
- Article
18
- Technical Physics Letters, 2018, v. 44, n. 2, p. 112, doi. 10.1134/S1063785018020116
- Reznik, R. R.;
- Cirlin, G. E.;
- Shtrom, I. V.;
- Khrebtov, A. I.;
- Soshnikov, I. P.;
- Kryzhanovskaya, N. V.;
- Moiseev, E. I.;
- Zhukov, A. E.
- Article
19
- Physica Status Solidi - Rapid Research Letters, 2010, v. 4, n. 7, p. 175, doi. 10.1002/pssr.201004185
- Novikov, B. V.;
- Serov, S. Yu.;
- Filosofov, N. G.;
- Shtrom, I. V.;
- Talalaev, V. G.;
- Vyvenko, O. F.;
- Ubyivovk, E. V.;
- Samsonenko, Yu. B.;
- Bouravleuv, A. D.;
- Soshnikov, I. P.;
- Sibirev, N. V.;
- Cirlin, G. E.;
- Dubrovskii, V. G.
- Article
20
- Physica Status Solidi - Rapid Research Letters, 2009, v. 3, n. 4, p. 112, doi. 10.1002/pssr.200903057
- Cirlin, G. E.;
- Dubrovskii, V. G.;
- Soshnikov, I. P.;
- Sibirev, N. V.;
- Samsonenko, Yu. B.;
- Bouravleuv, A. D.;
- Harmand, J. C.;
- Glas, F.
- Article
21
- Physica Status Solidi (B), 2010, v. 247, n. 2, p. 347, doi. 10.1002/pssb.200945457
- Smirnov, M. B.;
- Talalaev, V. G.;
- Novikov, B. V.;
- Sarangov, S. V.;
- Zakharov, N. D.;
- Werner, P.;
- Gösele, U.;
- Tomm, J. W.;
- Cirlin, G. E.
- Article
22
- Physica Status Solidi (B), 2010, v. 247, n. 2, p. n/a, doi. 10.1002/pssb.201090002
- Smirnov, M. B.;
- Talalaev, V. G.;
- Novikov, B. V.;
- Sarangov, S. V.;
- Zakharov, N. D.;
- Werner, P.;
- Gösele, U.;
- Tomm, J. W.;
- Cirlin, G. E.
- Article
23
- Physica Status Solidi (B), 2004, v. 241, n. 10, p. R42, doi. 10.1002/pssb.200409049
- Dubrovskii, V. G.;
- Cirlin, G. E.;
- Ustinov, V. M.
- Article
24
- Physica Status Solidi (B), 2004, v. 241, n. 7, p. R30, doi. 10.1002/pssb.200409042
- Dubrovskii, V. G.;
- Soshnikov, I. P.;
- Cirlin, G. E.;
- Tonkikh, A. A.;
- Samsonenko, Yu. B.;
- Sibirev, N. V.;
- Ustinov, V. M.
- Article
25
- Physica Status Solidi (B), 2003, v. 236, n. 1, p. R1, doi. 10.1002/pssb.200301758
- Tonkikh, A. A.;
- Dubrovskii, V. G.;
- Cirlin, G. E.;
- Egorov, V. A.;
- Ustinov, V. M.;
- Werner, P.
- Article
26
- Semiconductors, 2024, v. 58, n. 3, p. 222, doi. 10.1134/S1063782624030059
- Ilkiv, I. V.;
- Lendyashova, V. V.;
- Borodin, B. B.;
- Talalaev, V. G.;
- Shugabaev, T.;
- Reznik, R. R.;
- Cirlin, G. E.
- Article
27
- Semiconductors, 2021, v. 55, n. 10, p. 795, doi. 10.1134/S1063782621090207
- Soshnikov, I. P.;
- Kotlyar, K. P.;
- Reznik, R. R.;
- Gridchin, V. O.;
- Lendyashova, V. V.;
- Vershinin, A. V.;
- Lysak, V. V.;
- Kirilenko, D. A.;
- Bert, N. A.;
- Cirlin, G. E.
- Article
28
- Semiconductors, 2021, v. 55, n. 8, p. 678, doi. 10.1134/S1063782621080108
- Ilkiv, I. V.;
- Kotlyar, K. P.;
- Kirilenko, D. A.;
- Osipov, A. V.;
- Soshnikov, I. P.;
- Terpitsky, A. N.;
- Cirlin, G. E.
- Article
29
- Semiconductors, 2020, v. 54, n. 9, p. 1141, doi. 10.1134/S1063782620090158
- Khrebtov, A. I.;
- Kulagina, A. S.;
- Danilov, V. V.;
- Gromova, E. S.;
- Skurlov, I. D.;
- Litvin, A. P.;
- Reznik, R. R.;
- Shtrom, I. V.;
- Cirlin, G. E.
- Article
30
- Semiconductors, 2020, v. 54, n. 9, p. 1092, doi. 10.1134/S1063782620090298
- Cirlin, G. E.;
- Reznik, R. R.;
- Zhukov, A. E.;
- Khabibullin, R. A.;
- Maremyanin, K. V.;
- Gavrilenko, V. I.;
- Morozov, S. V.
- Article
31
- Semiconductors, 2020, v. 54, n. 9, p. 1075, doi. 10.1134/S1063782620090237
- Reznik, R. R.;
- Gridchin, V. O.;
- Kotlyar, K. P.;
- Kryzhanovskaya, N. V.;
- Morozov, S. V.;
- Cirlin, G. E.
- Article
32
- Semiconductors, 2020, v. 54, n. 6, p. 650, doi. 10.1134/S1063782620060056
- Dubrovskii, V. G.;
- Reznik, R. R.;
- Kryzhanovskaya, N. V.;
- Shtrom, I. V.;
- Ubyivovk, E. D.;
- Soshnikov, I. P.;
- Cirlin, G. E.
- Article
33
- Semiconductors, 2019, v. 53, n. 9, p. 1258, doi. 10.1134/S1063782619090082
- Khrebtov, A. I.;
- Reznik, R. R.;
- Ubyivovk, E. V.;
- Litvin, A. P.;
- Skurlov, I. D.;
- Parfenov, P. S.;
- Kulagina, A. S.;
- Danilov, V. V.;
- Cirlin, G. E.
- Article
34
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 16, p. 2146, doi. 10.1134/S1063782618160285
- Shtrom, I. V.;
- Kotlyar, K. P.;
- Filosofov, N. G.;
- Serov, A. Yu.;
- Krizhkov, D. I.;
- Samsonenko, Yu. B.;
- Ilkiev, I. V.;
- Reznik, R. R.;
- Agekyan, V. F.;
- Cirlin, G. E.
- Article
35
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 16, p. 2092, doi. 10.1134/S106378261816008X
- Fedorov, V. V.;
- Bolshakov, A. D.;
- Dvoretckaia, L. N.;
- Sapunov, G. A.;
- Kirilenko, D. A.;
- Mozharov, A. M.;
- Shugurov, K. Yu.;
- Shkoldin, V. A.;
- Cirlin, G. E.;
- Mukhin, I. S.
- Article
36
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 16, p. 2088, doi. 10.1134/S1063782618160054
- Bolshakov, A. D.;
- Dvoretckaia, L. N.;
- Fedorov, V. V.;
- Sapunov, G. A.;
- Mozharov, A. M.;
- Shugurov, K. Yu.;
- Shkoldin, V. A.;
- Mukhin, M. S.;
- Cirlin, G. E.;
- Mukhin, I. S.
- Article
37
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 14, p. 1833, doi. 10.1134/S1063782618140026
- Alekseev, P. A.;
- Sharov, V. A.;
- Dunaevskiy, M. S.;
- Cirlin, G. E.;
- Reznik, R. R.;
- Berkovits, V. L.
- Article
38
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 14, p. 1809, doi. 10.1134/S106378261814021X
- Mozharov, A. M.;
- Vasiliev, A. A.;
- Komissarenko, F. E.;
- Bolshakov, A. D.;
- Sapunov, G. A.;
- Fedorov, V. V.;
- Cirlin, G. E.;
- Mukhin, I. S.
- Article
39
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 12, p. 1611, doi. 10.1134/S1063782618120047
- Alekseev, P. A.;
- Dunaevskiy, M. S.;
- Mikhailov, A. O.;
- Lebedev, S. P.;
- Lebedev, A. A.;
- Ilkiv, I. V.;
- Khrebtov, A. I.;
- Bouravleuv, A. D.;
- Cirlin, G. E.
- Article
40
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 12, p. 1568, doi. 10.1134/S1063782618120229
- Sibirev, N. V.;
- Kotlyar, K. P.;
- Koryakin, A. A.;
- Shtrom, I. V.;
- Ubiivovk, E. V.;
- Soshnikov, I. P.;
- Reznik, R. R.;
- Bouravleuv, A. D.;
- Cirlin, G. E.
- Article
41
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 11, p. 1428, doi. 10.1134/S1063782618110210
- Reznik, R. R.;
- Kotlyar, K. P.;
- Ilkiv, I. V.;
- Soshnikov, I. P.;
- Lebedev, S. P.;
- Lebedev, A. A.;
- Kirilenko, D. A.;
- Alexeev, P. A.;
- Cirlin, G. E.
- Article
42
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 11, p. 1416, doi. 10.1134/S1063782618110258
- Cirlin, G. E.;
- Reznik, R. R.;
- Samsonenko, Yu. B.;
- Khrebtov, A. I.;
- Kotlyar, K. P.;
- Ilkiv, I. V.;
- Soshnikov, I. P.;
- Kirilenko, D. A.;
- Kryzhanovskaya, N. V.
- Article
43
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 5, p. 651, doi. 10.1134/S1063782618050251
- Reznik, R. R.;
- Kotlyar, K. P.;
- Soshnikov, I. P.;
- Kukushkin, S. A.;
- Osipov, A. V.;
- Cirlin, G. E.
- Article
44
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 5, p. 609, doi. 10.1134/S1063782618050020
- Alekseev, P. A.;
- Sharov, V. A.;
- Geydt, P.;
- Dunaevskiy, M. S.;
- Soshnikov, I. P.;
- Reznik, R. R.;
- Lysak, V. V.;
- Lähderanta, E.;
- Cirlin, G. E.
- Article
45
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 5, p. 605, doi. 10.1134/S1063782618050317
- Soshnikov, I. P.;
- Kotlyar, K. P.;
- Bert, N. A.;
- Kirilenko, D. A.;
- Bouravleuv, A. D.;
- Cirlin, G. E.
- Article
46
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 5, p. 602, doi. 10.1134/S1063782618050299
- Shtrom, I. V.;
- Filosofov, N. G.;
- Agekian, V. F.;
- Smirnov, M. B.;
- Serov, A. Yu.;
- Reznik, R. R.;
- Kudryavtsev, K. E.;
- Cirlin, G. E.
- Article
47
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 4, p. 489, doi. 10.1134/S1063782618040231
- Mozharov, A. M.;
- Vasiliev, A. A.;
- Bolshakov, A. D.;
- Sapunov, G. A.;
- Fedorov, V. V.;
- Cirlin, G. E.;
- Mukhin, I. S.
- Article
48
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 4, p. 462, doi. 10.1134/S1063782618040103
- Cirlin, G. E.;
- Reznik, R. R.;
- Shtrom, I. V.;
- Khrebtov, A. I.;
- Samsonenko, Yu. B.;
- Kukushkin, S. A.;
- Kasama, T.;
- Akopian, N.;
- Leonardo, L.
- Article
49
- Semiconductors, 2010, v. 44, n. 8, p. 1050, doi. 10.1134/S1063782610080178
- Talalaev, V. G.;
- Senichev, A. V.;
- Novikov, B. V.;
- Tomm, J. W.;
- Elsaesser, T.;
- Zakharov, N. D.;
- Werner, P.;
- Gösele, U.;
- Samsonenko, Yu. B.;
- Cirlin, G. E.
- Article
50
- Semiconductors, 2010, v. 44, n. 5, p. 610, doi. 10.1134/S1063782610050118
- Dementyev, P. A.;
- Dunaevskii, M. S.;
- Samsonenko, Yu. B.;
- Cirlin, G. E.;
- Titkov, A. N.
- Article