Works matching IS 02531933 AND DT 2014 AND VI 33 AND IP 1
1
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 333
- David Bayvel, A. C.;
- Mellor, D. J.
- Article
2
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 327
- David Bayvel, A. C.;
- Mellor, D. J.
- Article
3
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 323, doi. 10.20506/rst.33.1.2277
- David Bayvel, A. C.;
- Mellor, D. J.
- Article
4
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 311, doi. 10.20506/rst.33.1.2278
- Aréchiga Ceballos, N.;
- Karunaratna, D.;
- Aguilar Setién, A.
- Article
5
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 303, doi. 10.20506/rst.33.1.2279
- Thornber, P. M.;
- Rubira, R. J.;
- Styles, D. K.
- Article
6
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 291, doi. 10.20506/rst.33.1.2280
- Gavinelli, A.;
- Kennedy, T.;
- Simonin, D.
- Article
7
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 281, doi. 10.20506/rst.33.1.2281
- Littin, K.;
- Fisher, P.;
- Beausoleil, N. J.;
- Sharp, T.
- Article
8
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 273, doi. 10.20506/rst.33.1.2282
- Article
9
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 265, doi. 10.20506/rst.33.1.2283
- Griffin, G.;
- MacArthur Clark, J.;
- Zurlo, J.;
- Ritskes-Hoitinga, M.
- Article
10
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 197, doi. 10.20506/rst.33.1.2272
- Abdul Rahman, S.;
- Reed, K.
- Article
11
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 255, doi. 10.20506/rst.33.1.2284
- Article
12
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 189, doi. 10.20506/rst.33.1.2273
- Article
13
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 221, doi. 10.20506/rst.33.1.2287
- Schuppli, C. A.;
- Fraser, D.;
- Bacon, H. J.
- Article
14
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 213, doi. 10.20506/rst.33.1.2270
- Sonntag, Q.;
- Overall, K. L.
- Article
15
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 161, doi. 10.20506/rst.33.1.2276
- Article
16
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 245, doi. 10.20506/rst.33.1.2285
- Braithwaite, V. A.;
- Ebbesson, L. O. E.
- Article
17
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 233, doi. 10.20506/rst.33.1.2286
- Huntingford, F. A.;
- Kadri, S.
- Article
18
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 181, doi. 10.20506/rst.33.1.2274
- Article
19
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 171, doi. 10.20506/rst.33.1.2275
- Article
20
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 203, doi. 10.20506/rst.33.1.2271
- Tadich, T. A.;
- Stuardo Escobar, L. H.
- Article
21
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 153, doi. 10.20506/rst.33.1.2255
- Vannier, P.;
- Michel, V.;
- Keeling, L. J.
- Article
22
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 139, doi. 10.20506/rst.33.1.2256
- Cronin, G. M.;
- Rault, J.-L.;
- Glatz, P. C.
- Article
23
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 131, doi. 10.20506/rst.33.1.2257
- Coleman, G. J.;
- Hemsworth, P. H.
- Article
24
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 121, doi. 10.20506/rst.33.1.2258
- Mellor, D. J.;
- Webster, J. R.
- Article
25
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 111, doi. 10.20506/rst.33.1.2259
- Wemelsfelder, F.;
- Mullan, S.
- Article
26
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 103, doi. 10.20506/rst.33.1.2260
- Article
27
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 97, doi. 10.20506/rst.33.1.2261
- Nicks, B.;
- Vandenheede, M.
- Article
28
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 47, doi. 10.20506/rst.33.1.2265
- Article
29
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 85, doi. 10.20506/rst.33.1.2262
- Article
30
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 33, doi. 10.20506/rst.33.1.2267
- Article
31
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 67, doi. 10.20506/rst.33.1.2264
- Huertas, S. M.;
- Gallo, C.;
- Galindo, F.
- Article
32
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 55, doi. 10.20506/rst.33.1.2264
- Huertas, S. M.;
- Gallo, C.;
- Galindo, F.
- Article
33
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 91, doi. 10.20506/rst.33.1.2261
- Nicks, B.;
- Vandenheede, M.
- Article
34
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 39, doi. 10.20506/rst.33.1.2266
- Dalla Villa, P.;
- Matthews, L. R.;
- Alessandrini, B.;
- Messori, S.;
- Migliorati, G.
- Article
35
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 77, doi. 10.20506/rst.33.1.2263
- Murray, G.;
- Ashley, K.;
- Kolesar, R.
- Article
36
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 29
- Article
37
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 25
- Article
38
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 21
- Article
39
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 17
- Article
40
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 13
- Article
41
- OIE Revue Scientifique et Technique, 2014, v. 33, n. 1, p. 11
- Article