Works matching DE "INJECTION lasers"
1
- Journal of Applied Spectroscopy, 2011, v. 78, n. 5, p. 733, doi. 10.1007/s10812-011-9525-7
- Burov, L.;
- Gorbatsevich, A.;
- Jadan, M.;
- Sherstnev, V.;
- Yakovlev, Yu.
- Article
2
- Journal of Applied Spectroscopy, 2010, v. 77, n. 1, p. 65, doi. 10.1007/s10812-010-9294-8
- Jadan, M.;
- Burov, L. I.;
- Gorbatsevich, A. S.;
- Sokolov, E. S.
- Article
3
- Acta Physica Polonica: A, 2009, v. 116, n. 4, p. 664
- Krstić, M. M.;
- Gvozdić, D. M.
- Article
4
- Journal of Analytical Chemistry, 2013, v. 68, n. 14, p. 1165, doi. 10.1134/S1061934813140062
- Makarov, A.;
- Grechnikov, A.;
- Nikiforov, S.;
- Tyutyunnik, O.;
- Denisov, E.
- Article
5
- Annals of Glaciology, 2021, v. 62, n. 84, p. 166, doi. 10.1017/aog.2020.70
- Hills, Benjamin H.;
- Winebrenner, Dale P.;
- Elam, W. T.;
- Kintner, Paul M. S.
- Article
6
- Scientific Reports, 2015, p. 16310, doi. 10.1038/srep16310
- Thaury, C.;
- Guillaume, E.;
- Lifschitz, A.;
- Ta Phuoc, K.;
- Hansson, M.;
- Grittani, G.;
- Gautier, J.;
- Goddet, J.-P.;
- Tafzi, A.;
- Lundh, O.;
- Malka, V.
- Article
7
- Journal of Synchrotron Radiation, 2010, v. 17, n. 6, p. 771
- Article
8
- Pramana: Journal of Physics, 2008, v. 70, n. 7, p. 99
- Ahmed, Moustafa;
- El-Lafi, Ali
- Article
9
- Microwave & Optical Technology Letters, 2007, v. 49, n. 4, p. 765, doi. 10.1002/mop.22262
- Daru Chen;
- Shan Qin;
- Zhangwei Yu;
- Sailing He
- Article
10
- Microwave & Optical Technology Letters, 2007, v. 49, n. 3, p. 539, doi. 10.1002/mop.22180
- Zhang, S. J.;
- Zhu, N. H.;
- Pun, E. Y. B.;
- Chung, P. S.
- Article
11
- Microwave & Optical Technology Letters, 2004, v. 42, n. 4, p. 272, doi. 10.1002/mop.20275
- Wartak, M. S.;
- Weetman, P.
- Article
12
- Microwave & Optical Technology Letters, 2001, v. 30, n. 6, p. 369, doi. 10.1002/mop.1316
- Seo, Young-Kwang;
- Kim, Ajung;
- Kim, Jung-Tae;
- Choi, Woo-Young
- Article
13
- Theoretical Chemistry Accounts: Theory, Computation, & Modeling, 2011, v. 130, n. 2/3, p. 227, doi. 10.1007/s00214-011-0963-3
- Mishima, Kenji;
- Segawa, Hiroshi;
- Yamashita, Koichi
- Article
14
- Applied Physics B: Lasers & Optics, 2015, v. 118, n. 4, p. 517, doi. 10.1007/s00340-015-6018-z
- Kostylev, N.;
- Locke, C.;
- Tobar, M.;
- McFerran, J.
- Article
15
- Nature, 2005, v. 433, n. 7028, p. 845, doi. 10.1038/nature03330
- Troccoli, Mariano;
- Belyanin, Alexey;
- Capasso, Federico;
- Cubukcu, Ertugrul;
- Sivco, Deborah L.;
- Cho, Alfred Y.
- Article
16
- Journal of Applied Spectroscopy, 2006, v. 73, n. 1, p. 130, doi. 10.1007/s10812-006-0047-7
- Article
17
- Journal of Applied Spectroscopy, 2004, v. 71, n. 1, p. 73, doi. 10.1023/B:JAPS.0000025351.43584.c9
- Matyukhin, A. B.;
- Afonenko, A. A.;
- Manak, I. S.
- Article
18
- Applied Physics A: Materials Science & Processing, 2004, v. 78, n. 4, p. 505, doi. 10.1007/s00339-003-2411-2
- Wagner, J.;
- Mann, Ch.;
- Rattunde, M.;
- Weimann, G.
- Article
19
- Optica Applicata, 2010, v. 40, n. 3, p. 609
- RYBIŃSKI, JANUSZ;
- BEDNAREK, MICHAŁ;
- WIŚNIEWSKI, PRZEMYSŁAW;
- ŚWIETLIK, TOMASZ
- Article
20
- International Journal of Nanoscience, 2007, v. 6, n. 3/4, p. 279, doi. 10.1142/S0219581X07004729
- KAGAN, M. S.;
- ALTUKHOV, I. V.;
- PAPROTSKIY, S. K.;
- SINIS, V. P.;
- YASSIEVICH, I. N.;
- KOLODZEY, J.
- Article
21
- International Journal of Nanoscience, 2004, v. 3, n. 1/2, p. 203, doi. 10.1142/S0219581X04001997
- Aleshchenko, Yu. A.;
- Kapaev, V. V.;
- Kopaev, Yu. V.;
- Kopev, P. S.;
- Ustinov, V. M.;
- Zhukov, A. E.
- Article
22
- Russian Physics Journal, 2017, v. 60, n. 3, p. 550, doi. 10.1007/s11182-017-1107-6
- Makhsudov, B.;
- Dzhuraev, Kh.;
- Karimov, Z.
- Article
23
- Technical Physics, 1997, v. 42, n. 4, p. 394, doi. 10.1134/1.1258692
- Article
24
- Technical Physics, 1997, v. 42, n. 2, p. 172, doi. 10.1134/1.1258843
- Saenko, I. I.;
- Bardyshev, A. O.
- Article
25
- Energy Science & Engineering, 2015, v. 3, n. 4, p. 360, doi. 10.1002/ese3.69
- Taghavifar, Hadi;
- Khalilarya, Shahram;
- Jafarmadar, Samad
- Article
26
- Semiconductors, 2016, v. 50, n. 12, p. 1669, doi. 10.1134/S1063782616120125
- Maremyanin, K.;
- Rumyantsev, V.;
- Ikonnikov, A.;
- Bovkun, L.;
- Chizhevskii, E.;
- Zasavitskii, I.;
- Gavrilenko, V.
- Article
27
- Semiconductors, 2016, v. 50, n. 10, p. 1362, doi. 10.1134/S1063782616100055
- Asryan, L.;
- Zubov, F.;
- Kryzhanovskaya, N.;
- Maximov, M.;
- Zhukov, A.
- Article
28
- Semiconductors, 2013, v. 47, n. 11, p. 1513, doi. 10.1134/S1063782613110237
- Vinnichenko, M.;
- Vorobjev, L.;
- Firsov, D.;
- Mashko, M.;
- Balagula, R.;
- Belenky, G.;
- Shterengas, L.;
- Kipshidze, G.
- Article
29
- Semiconductors, 2013, v. 47, n. 8, p. 1110, doi. 10.1134/S1063782613080125
- Article
30
- Semiconductors, 2005, v. 39, n. 4, p. 481, doi. 10.1134/1.1900267
- Novikov, I. I.;
- Gordeev, N. Yu.;
- Maksimov, M. V.;
- Shernyakov, Yu. M.;
- Semenova, E. S.;
- Vasil'ev, A. P.;
- Zhukov, A. E.;
- Ustinov, V. M.;
- Zegrya, G. G.
- Article
31
- Semiconductors, 2004, v. 38, n. 6, p. 727, doi. 10.1134/1.1766380
- Karachinsky, L.Ya.;
- Gordeev, N.Yu.;
- Novikov, I.I.;
- Maximov, M.V.;
- Kovsh, A.R.;
- Wang, J.S.;
- Hsiao, R.S.;
- Chi, J.Y.;
- Ustinov, V.M.;
- Ledentsov, N.N.
- Article
32
- Semiconductors, 2004, v. 38, n. 5, p. 607, doi. 10.1134/1.1755901
- Odnoblyudov, V. A.;
- Egorov, A. Yu;
- Kulagina, M. M.;
- Maleev, N. A.;
- Shernyakov, Yu M.;
- Nikitina, E. V.;
- Ustinov, V. M.
- Article
33
- Semiconductors, 2004, v. 38, n. 2, p. 239, doi. 10.1134/1.1648385
- Afonenko, A. A.;
- Aleshkin, V. Ya.;
- Dubinov, A. A.
- Article
34
- Semiconductors, 2003, v. 37, n. 10, p. 1239, doi. 10.1134/1.1619525
- Novikov, I.I.;
- Maksimov, M.V.;
- Shernyakov, Yu. M.;
- Gordeev, N. Yu.;
- Kovsh, A.R.;
- Zhukov, A.E.;
- Mikhrin, S.S.;
- Maleev, N.A.;
- Vasil'ev, A.P.;
- Ustinov, V.M.;
- Alferov, Zh. I.;
- Ledentsov, N.N.;
- Bimberg, D.
- Article
35
- Semiconductors, 2003, v. 37, n. 6, p. 736, doi. 10.1134/1.1582546
- Ivanov, S. V.;
- Moiseev, K. D.;
- Kaıgorodov, V. A.;
- Solov’ev, V. A.;
- Sorokin, S. V.;
- Meltser, B. Ya.;
- Grebenshchikova, E. A.;
- Sedova, I. V.;
- Terent’ev, Ya. V.;
- Semenov, A. N.;
- Astakhova, A. P.;
- Mikhaılova, M. P.;
- Toropov, A. A.;
- Yakovlev, Yu. P.;
- Kop’ev, P. S.;
- Alferov, Zh. I.
- Article
36
- Semiconductors, 2003, v. 37, n. 1, p. 112, doi. 10.1134/1.1538549
- Gordeev, N.Yu.;
- Za&iccaron;tsev, S.V.;
- Karachinsky, L.Ya.;
- Kopchatov, V.I.;
- Novikov, I.I.;
- Ustinov, V.M.;
- Kop'ev, P.S.
- Article
37
- Semiconductors, 2001, v. 35, n. 10, p. 1203, doi. 10.1134/1.1410665
- Aleshkin, V. Ya.;
- Afonenko, A. A.;
- Zvonkov, N. B.
- Article
38
- Semiconductors, 2001, v. 35, n. 4, p. 485, doi. 10.1134/1.1365201
- Article
39
- Semiconductors, 2000, v. 34, n. 11, p. 1338, doi. 10.1134/1.1325435
- Kotel’nikov, E. Yu.;
- Kudryashov, I. V.;
- Rastegaeva, M. G.;
- Katsnel’son, A. A.;
- Shkol’nik, A. S.;
- Evtikhiev, V. P.
- Article
40
- Semiconductors, 1999, v. 33, n. 9, p. 1013, doi. 10.1134/1.1187828
- Zhukov, A. E.;
- Kovsh, A. R.;
- Ustinov, V. M.;
- Egorov, A. Yu.;
- Ledentsov, N. N.;
- Tsatsul’nikov, A. F.;
- Maksimov, M. V.;
- Zaıtsev, S. V.;
- Shernyakov, Yu. M.;
- Lunev, A. V.;
- Kop’ev, P. S.;
- Alferov, Zh. I.;
- Bimberg, D.
- Article
41
- Semiconductors, 1999, v. 33, n. 9, p. 991, doi. 10.1134/1.1187821
- Danilova, A. P.;
- Danilova, T. N.;
- Imenkov, A. N.;
- Kolchanova, N. M.;
- Stepanov, M. V.;
- Sherstnev, V. V.;
- Yakovlev, Yu. P.
- Article
42
- Semiconductors, 1997, v. 31, n. 9, p. 929, doi. 10.1134/1.1187155
- Afonenko, A. A.;
- Manak, I. S.;
- Shevtsov, V. A.;
- Kononenko, V. K.
- Article
43
- Semiconductors, 1997, v. 31, n. 5, p. 455
- Zaıtsev, S. V.;
- Gordeev, N. Yu.;
- Ustinov, V. M.;
- Zhukov, A. E.;
- Egorov, A. Yu.;
- Maksimov, M. V.;
- Tsatsul’nikov, A. F.;
- Ledentsov, N. N.;
- Kop’ev, P. S.;
- Alferov, Zh. I.;
- Bimberg, D.
- Article
44
- Semiconductors, 1997, v. 31, n. 5, p. 519, doi. 10.1134/1.1187315
- Gurevich, S. A.;
- Simin, G. S.;
- Shatalov, M. S.
- Article
45
- Semiconductors, 1997, v. 31, n. 4, p. 411, doi. 10.1134/1.1187173
- Zhukov, A. E.;
- Egorov, A. Yu.;
- Kovsh, A. R.;
- Ustinov, V. M.;
- Ledentsov, N. N.;
- Maksimov, M. V.;
- Tsatsul’nikov, A. F.;
- Zaıtsev, S. V.;
- Gordeev, N. Yu.;
- Kop’ev, P. S.;
- Alferov, Zh. I.;
- Bimberg, D.
- Article
46
- Semiconductors, 1997, v. 31, n. 2, p. 124, doi. 10.1134/1.1187093
- Maksimov, M. V.;
- Gordeev, N. Yu.;
- Zaıtsev, S. V.;
- Kop’ev, P. S.;
- Kochnev, I. V.;
- Ledentsov, N. N.;
- Lunev, A. V.;
- Ruvimov, S. S.;
- Sakharov, A. V.;
- Tsatsul’nikov, A. F.;
- Shernyakov, Yu. M.;
- Alferov, Zh. I.;
- Bimberg, D.
- Article
47
- International Journal of Numerical Modelling, 2004, v. 17, n. 2, p. 147, doi. 10.1002/jnm.530
- Article
48
- Electronic Device Failure Analysis, 2009, v. 11, n. 2, p. 23, doi. 10.31399/asm.edfa.2009-2.p023
- Benz, Jason;
- Bentley, William;
- Myers, Joseph
- Article
49
- Radiation Protection Dosimetry, 2005, v. 116, n. 1-4, p. 28, doi. 10.1093/rpd/nci195
- Sato, S.;
- Lida, H.;
- Yamauchi, M.;
- Nishitani, T.
- Article
50
- International Materials Reviews, 2014, v. 59, n. 2, p. 61, doi. 10.1179/1743280413Y.0000000025
- Article