Works matching IS 10637826 AND DT 2018 AND VI 52 AND IP 1
1
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 6, doi. 10.1134/S1063782618010086
- Chernenko, A.;
- Brichkin, A.;
- Novikov, S.;
- Schneider, C.;
- Hoefling, S.
- Article
2
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 12, doi. 10.1134/S1063782618010098
- Gudina, S.;
- Neverov, V.;
- Ilchenko, E.;
- Bogolubskii, A.;
- Harus, G.;
- Shelushinina, N.;
- Podgornykh, S.;
- Yakunin, M.;
- Mikhailov, N.;
- Dvoretsky, S.
- Article
3
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 19, doi. 10.1134/S1063782618010244
- Trukhin, V.;
- Bouravleuv, A.;
- Mustafin, I.;
- Cirlin, G.;
- Kakko, J.;
- Lipsanen, H.
- Article
4
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 24, doi. 10.1134/S1063782618010049
- Belousov, Yu.;
- Gorelkin, V.;
- Chernousov, I.
- Article
5
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 31, doi. 10.1134/S1063782618010141
- Article
6
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 34, doi. 10.1134/S1063782618010177
- Novikova, N.;
- Yakovlev, V.;
- Kucherenko, I.;
- Vinogradov, V.;
- Aleschenko, Yu.;
- Muratov, A.;
- Karczewski, G.;
- Chusnutdinow, S.
- Article
7
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 41, doi. 10.1134/S1063782618010116
- Kaminsky, V.;
- Soloviev, S.;
- Khavrov, G.;
- Sharenkova, N.
- Article
8
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 44, doi. 10.1134/S1063782618010189
- Protasov, D.;
- Bakarov, A.;
- Toropov, A.;
- Ber, B.;
- Kazantsev, D.;
- Zhuravlev, K.
- Article
9
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 53, doi. 10.1134/S1063782618010153
- Nadtochiy, A.;
- Mintairov, S.;
- Kalyuzhnyy, N.;
- Rouvimov, S.;
- Nevedomskii, V.;
- Maximov, M.;
- Zhukov, A.
- Article
10
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 59, doi. 10.1134/S1063782618010220
- Sofronov, A.;
- Balagula, R.;
- Firsov, D.;
- Vorobjev, L.;
- Tonkikh, A.;
- Sarkisyan, H.;
- Hayrapetyan, D.;
- Petrosyan, L.;
- Kazaryan, E.
- Article
11
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 64, doi. 10.1134/S1063782618010128
- Kurbanov, M.;
- Ramazanova, I.;
- Dadashev, Z.;
- Yusifova, U.;
- Huseynova, G.;
- Azizova, K.;
- Farajzadeh, I.
- Article
12
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 71, doi. 10.1134/S1063782618010037
- Aliev, F.;
- Hasanov, H.;
- Rzaeva, A.;
- Jafarov, M.;
- Damirov, G.
- Article
13
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 78, doi. 10.1134/S1063782618010256
- Zhukov, N.;
- Kabanov, V.;
- Mihaylov, A.;
- Mosiyash, D.;
- Pereverzev, Ya.;
- Hazanov, A.;
- Shishkin, M.
- Article
14
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 84, doi. 10.1134/S1063782618010074
- Boiko, M.;
- Sharkov, M.;
- Karlina, L.;
- Boiko, A.;
- Konnikov, S.
- Article
15
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 88, doi. 10.1134/S1063782618010165
- Nikolskaia, A.;
- Vildanova, M.;
- Kozlov, S.;
- Shevaleevskiy, O.
- Article
16
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 93, doi. 10.1134/S1063782618010062
- Blokhin, S.;
- Bobrov, M.;
- Blokhin, A.;
- Kuzmenkov, A.;
- Vasil'ev, A.;
- Zadiranov, Yu.;
- Evropeytsev, E.;
- Sakharov, A.;
- Ledentsov, N.;
- Karachinsky, L.;
- Ospennikov, A.;
- Maleev, N.;
- Ustinov, V.
- Article
17
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 100, doi. 10.1134/S1063782618010104
- Article
18
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 105, doi. 10.1134/S1063782618010025
- Alekseev, A.;
- Al-Afeef, A.;
- Hedley, G.;
- Kharintsev, S.;
- Efimov, A.;
- Yedrisov, A.;
- Dyuzhev, N.;
- Samuel, I.
- Article
19
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 112, doi. 10.1134/S1063782618010207
- Seredin, P.;
- Lenshin, A.;
- Fedyukin, A.;
- Arsentyev, I.;
- Zhabotinsky, A.;
- Nikolaev, D.;
- Leiste, H.;
- Rinke, M.
- Article
20
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 118, doi. 10.1134/S1063782618010050
- Belyaev, A.;
- Antipov, V.;
- Rubets, V.
- Article
21
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 120, doi. 10.1134/S1063782618010232
- Solov'ev, V.;
- Chernov, M.;
- Sitnikova, A.;
- Brunkov, P.;
- Meltser, B.;
- Ivanov, S.
- Article
22
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 126, doi. 10.1134/S106378261801013X
- Mamutin, V.;
- Maleev, N.;
- Vasilyev, A.;
- Ilyinskaya, N.;
- Zadiranov, Yu.;
- Usikova, A.;
- Yagovkina, M.;
- Shernyakov, Yu.;
- Ustinov, V.
- Article
23
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 131, doi. 10.1134/S1063782618010190
- Sachenko, A.;
- Belyaev, A.;
- Konakova, R.
- Article
24
- Semiconductors, 2018, v. 52, n. 1, p. 1, doi. 10.1134/S1063782618010219
- Shtrom, I.;
- Sibirev, N.;
- Ubiivovk, E.;
- Samsonenko, Yu.;
- Khrebtov, A.;
- Reznik, R.;
- Bouravleuv, A.;
- Cirlin, G.
- Article