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Geschäfts- und Tätigkeitsbericht 2004 der Europäischen Forschungsgesellschaft Dünne Schichten e.V.
- Published in:
- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 97, doi. 10.1002/vipr.200590019
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LEEM - ein vielseitiges Werkzeug in der Nanotechnik. LEEM - a versatile tool in Nanotechnology.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 92, doi. 10.1002/vipr.200500249
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Erfahrungen mit der Leybold ScrewLine in industriellen Anwendungen. ScrewLine Vacuum Pumps in Industrial Applications.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 87, doi. 10.1002/vipr.200500250
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VIPs - Vakuum in Forschung und Praxis 2/2005.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 111, doi. 10.1002/vipr.200590014
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Produkte/Verfahren - Vakuum in Forschung und Praxis 2/2005.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 104, doi. 10.1002/vipr.200590011
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News - Vakuum in Forschung und Praxis 2/2005.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 108, doi. 10.1002/vipr.200590012
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Inhalt - Vakuum in Forschung und Praxis 2/2005.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 64, doi. 10.1002/vipr.200590018
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F & E - Vakuum in Forschung und Praxis 2/2005.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 110, doi. 10.1002/vipr.200590013
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Cover Picture - Vakuum in Forschung und Praxis 2/2005.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. n/a, doi. 10.1002/vipr.200590020
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Die geheimen Stars von Mittelerde.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 63, doi. 10.1002/vipr.200590017
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Aktuelle Entwicklungen bei Schichtsystemen für die Trockenbearbeitung. Recent developments in coating systems for dry machining.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 80, doi. 10.1002/vipr.200500246
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Bezugsquellen - Vakuum in Forschung und Praxis 2/2005.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 113, doi. 10.1002/vipr.200590016
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Charakterisierung von Plasma- Polymerfilmen mittels Flugzeit- Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS). Characterisation Plasma-Polymerfilms by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS).
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 73, doi. 10.1002/vipr.200500248
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Moderne Elektronenstrahltechnologien zum Fügen und zur Randschichtbehandlung. Modern Electron Beam Technologies for Soldering and Surface Treatment.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 66, doi. 10.1002/vipr.200500247
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Modifizierung und Beschichtung von Kunsstoffoberflächen.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 101, doi. 10.1002/vipr.200590010
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Veranstaltunegn & Termine - Vakuum in Forschung und Praxis 2/2005.
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- Vakuum in Forschung und Praxis, 2005, v. 17, n. 2, p. 112, doi. 10.1002/vipr.200590015
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- Article