Works matching IS 03233847 AND DT 2003 AND VI 45 AND IP 2
1
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 195, doi. 10.1002/bimj.200390005
- Article
2
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 143, doi. 10.1002/bimj.200390001
- Lawrence, John;
- Hung, H.M. James
- Article
3
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 218, doi. 10.1002/bimj.200390007
- Article
4
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 207, doi. 10.1002/bimj.200390006
- Dreassi, Emanuela;
- Biggeri, Annibale
- Article
5
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 165, doi. 10.1002/bimj.200390003
- Lee, Jack C.;
- Hsu, Ying-Lin
- Article
6
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 182, doi. 10.1002/bimj.200390004
- Ferrante, L.;
- Bompadre, S.;
- Leone, L.
- Article
7
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 153, doi. 10.1002/bimj.200390002
- Article
8
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 238, doi. 10.1002/bimj.200390009
- Article
9
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 135, doi. 10.1002/bimj.200390000
- Chen, Michael;
- Kianifard, Farid
- Article
10
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 249, doi. 10.1002/bimj.200390010
- El-Bassiouni, M.Y.;
- Halawa, A.M.
- Article
11
- Biometrical Journal, 2003, v. 45, n. 2, p. 226, doi. 10.1002/bimj.200390008
- Lui, Kung-Jong;
- Lin, Chii-Dean
- Article